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KLA-Tencor Libera Soluções Controles de Processos Novas Para Melhorar a Produção do DIODO EMISSOR DE LUZ

Published on January 21, 2011 at 6:24 AM

Hoje, KLA-Tencor Corporation (Nasdaq: KLAC), o fornecedor principal do mundo de soluções controles de processos e do rendimento da gestão para o semicondutor e as indústrias relacionadas, a análise automatizada introduzida de KLARITY® Conduzir-um e o sistema de gestão de dados do defeito para o rendimento do diodo (LED) luminescente realce-e a ferramenta nova, evolutiva da inspecção da bolacha de ICOS® WI-2220-a projectaram especificamente para a inspecção do defeito do DIODO EMISSOR DE LUZ que ajuda a fabricantes do dispositivo do DIODO EMISSOR DE LUZ em abaixar seus custos de gastos de fabricação, quando confiança crescente do dispositivo do DIODO EMISSOR DE LUZ.

“O consenso actual Da indústria calcula o estado que em 2013 o mercado do DIODO EMISSOR DE LUZ estará crescendo em uma taxa de crescimento anual composta de 25 por cento ou mais alto,” disse Jeff Donnelly, vice-presidente do grupo, Crescimento e Mercados Emergentes em KLA-Tencor. “Os fabricantes De Hoje do dispositivo do DIODO EMISSOR DE LUZ são desafiados com desempenho crescente em um mais barato, ao apoiar a taxa de crescimento agressiva da indústria. Com confiança e acessibilidade provadas, a carteira detalhada de KLA-Tencor de soluções da inspecção e da análise do defeito do DIODO EMISSOR DE LUZ é projectada permitir umas melhorias controles de processos e totais mais apertadas do rendimento para a produção do DIODO EMISSOR DE LUZ a custo diminuído pelo lúmen.”

DIODO EMISSOR DE LUZ DE KLARITY:  Análise de Defeito e Sistema de Gestão de Dados para o Realce do Rendimento do DIODO EMISSOR DE LUZ

Baseado no produto líder de mercado do Defeito de KLARITY para a fabricação do circuito integrado, o DIODO EMISSOR DE LUZ novo de KLARITY fornece uma solução do elevado desempenho para fabricantes do dispositivo do DIODO EMISSOR DE LUZ, incluindo a em-linha automatizada análise da varredura para o processo de manufactura inteiro do fabwide. A indústria do DIODO EMISSOR DE LUZ está evoluindo das verificações manuais ferramenta-céntricas tradicionais do defeito, com inspecção óptica automatizada somente na fim--linha fase, para a adopção de fabwide sofisticado controle de processos e de análise de defeito com em-linha inspecção. Em conseqüência da parte frontal à conectividade no final do processo, o DIODO EMISSOR DE LUZ de KLARITY entrega uma detecção da excursão e uma análise mais rápidas da causa origem do que métodos de prevalência da indústria para permitir a tomada de decisão eficaz, assim ajudando reduza o impacto do risco dos materiais e melhore rendimentos. Com DIODO EMISSOR DE LUZ de KLARITY, KLA-Tencor introduz aos fabricantes do dispositivo do DIODO EMISSOR DE LUZ uma em-linha avançada solução alternativa para a análise de defeito automatizada de processos de produção do DIODO EMISSOR DE LUZ, e a uma opção para compartilhar mais eficientemente de dados do desempenho e de confiança dentro de sua organização para um rendimento mais rápido que aprende, ao substituir métodos manuais trabalho-intensivos existentes da geração de relatório.

Projectou ajudar fabricantes do dispositivo do DIODO EMISSOR DE LUZ a acelerar o rendimento que aprende ciclos e alertar a acção correctiva imediata, DIODO EMISSOR DE LUZ de KLARITY inclui:

  • Análise Automatizada (excursão controle de processos estatística inteligente e monitor da linha de base) - acção tempo-à-correctiva mais rápida dos apoios com relatórios baseados sobre o conhecimento automatizados, capacidade extensiva da broca-para baixo e análise de fluxo prática da decisão que intervenção e interpretação do perito previamente exigido
  • O Defeito Avançado Source Análise-Automatiza o processo de análise da causa origem para as fontes do defeito que fornecem a análise gráfica flexível de defeitos da terra comum e do adicionador
  • Análise Espacial Proprietária da Assinatura - identifica assinaturas espaciais, a contagem e as forças de alavanca dinâmicas da assinatura das trilhas empilham assinaturas da bolacha para identificar a causa origem para uma detecção mais rápida e a acção correctiva
  • A imagem do Defeito revisão-fornece o ponto do mapa da bolacha e o acesso do clique, assim como uma galeria da imagem, permitindo que os fabricantes do dispositivo validem a classificação e a identificação da normalização da transição do defeito e gerem ràpida relatórios automatizados
    O defeito do Repetidor detecção-identifica defeitos da repetição através de uma bolacha individual, assim como da bolacha à bolacha

A inspecção da bolacha de KLA-Tencor dos complementos do DIODO EMISSOR DE LUZ de KLARITY queinclui o ICOS novo WI-2220-to fornece uma solução Conduzir-específica aumentada da carteira para o retorno alto em investimentos críticos da inspecção do DIODO EMISSOR DE LUZ.

ICOS WI-2220: Inspecção Evolutiva do Defeito e Custo Melhorado da Posse no DIODO EMISSOR DE LUZ Controle de Processos

Os fabricantes ópticos automatizados WI-2220 do dispositivo do DIODO EMISSOR DE LUZ da ajuda das capacidades da inspecção de ICOS realizam rendimentos aumentados e custos de gastos de fabricação reduzidos. Com o ICOS WI-2220, os fabricantes do dispositivo podem automatizar a inspecção de menor morrem os tamanhos que inibem a inspecção manual, e para maior morrem os tamanhos que exigem a acção correctiva rápida limitar o risco caro dos materiais. O sistema novo permite a inspecção do defeito de bolachas inteiras e cortadas até 200mm, com sensibilidade macro da inspecção na inspecção pre- e dos cargo-dados (isto é parte dianteira e parte posterior) de bolachas do DIODO EMISSOR DE LUZ.

Comparado aos produtos similares no mercado hoje, o ICOS WI-2220 fornece a sensibilidade a crítico defeito-enquanto que minimizando o ruído introduzido pelo processo variação-e oferece o desempenho proeminente excedente e do underkill (morre o erro de classificação) na velocidade alta da inspecção.  O sistema novo igualmente oferece a distorção da baixo-imagem, filtração ótica avançada, binning baseado em regras (RBB) para classificação do defeito do tempo real a auto, e capacidades avançadas da metrologia na produção alta da inspecção em conseqüência da tecnologia proprietária nova da inspecção e do processo de dados. Isto permite rendimentos aumentados no processo de manufactura com a linha baixa melhoria do rendimento, o controle da excursão assim como dispositioning melhorado em inspeçãos de controle que parte da qualidade.

O ICOS WI-2220 trabalha conjuntamente com o sistema de inspecção unpatterned da bolacha do DIODO EMISSOR DE LUZ do Candela para fornecer detalhado, rendimento-melhorando a cobertura da inspecção à parte frontal da linha, incluindo a análise para a disposição, a redução do defeito e o controle da excursão. Além Disso, o ICOS WI-2220 é upgradable ao ICOS WI-2250 para configurações flexíveis.

Source: http://www.kla-tencor.com/

Last Update: 11. January 2012 12:27

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