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KLA-Tencor 发行新的程序控制的解决方法改进 LED 生产

Published on January 21, 2011 at 6:24 AM

今天, KLA-Tencor Corporation (那斯达克: KLAC),程序控制和产量管理解决方法的领先世界的供应商半导体和相关行业的,被引入的 KLARITY® 导致自动分析和缺陷数据管理系统发光二极管 (LED)产量改进和新,可升级的 ICOS® WI2220 薄酥饼检验工具的为 LED 协助解决 LED 设备制造商在降低他们的生产成本,当增长的 LED 设备可靠性时的缺陷检验特别地设计了。

“行业的当前共识估计由 2013 LED 市场增长以 25% 的复合年增长率或更高的状态”,在 KLA-Tencor 说杰夫 Donnelly,组副总统、增长和新兴市场。 随着在更加低价的性能的增加 “今天 LED 设备制造商挑战,当支持行业的积极的增长率时。 证明的可靠性和易用, LED 缺陷检验和分析解决方法 KLA-Tencor 的全面投资组合被设计启用 LED 生产的更加严密的程序控制和整体产量改善在减少的费用每流明”。

KLARITY LED :  缺陷分析和 LED 产量改进的数据管理系统

基于集成电路制造的领先业界的 KLARITY 缺陷产品,新的 KLARITY LED 为 LED 设备制造商提供一个高性能解决方法,包括整个 fabwide 制造过程的自动化的轴向扫描分析。 LED 行业从传统工具中心手工缺陷检查仅演变,与自动化的光学检验在行尾阶段,往采用程序控制复杂的 fabwide 和与轴向检验的缺陷分析。 由于后端处理连通性的前端, KLARITY LED 比战胜的行业方法提供更加快速的游览检测和根原因分析启用有效决策,因而帮助请减少材料风险的影响并且改进产量。 使用 KLARITY LED, KLA-Tencor 引入给 LED 设备制造商对 LED 生产过程的自动化的缺陷分析的先进的轴向替代解决方案和更加高效地共享在他们的组织内的性能和可靠性数据的选项了解更加快速的产量,当替换现有的劳动强度手工报表生成方法时。

设计帮助 LED 设备制造商加速了解循环的产量,并且提示立即更正活动, KLARITY LED 包括:

  • 自动分析 (智能统计程序控制的游览和草拟监控程序) - 与自动化的基于知识的报表、广泛的查询下来功能和实用的决策流动分析的支持更加快速的定期对更正的活动以前必需的专家干预和解释
  • 先进的缺陷来源分析自动化提供对公用和加法器缺陷的灵活的图解的缺陷来源的起因分析的进程
  • 所有权空间的签名分析 - 识别空间的签名,跟踪动态签名计数和杠杆作用堆积薄酥饼签名识别更加快速的检测和更正活动的起因
  • 缺陷图象复核提供薄酥饼映射点和单击存取,以及一个图象画廊,允许设备制造商验证分类和缺陷转移公共确定和迅速地生成自动化的报表
    中继器缺陷检测识别重复缺陷在一个单个薄酥饼间,以及从薄酥饼到薄酥饼

KLARITY LED 补充 KLA-Tencor 的系统包括新的 ICOS 的薄酥饼检验 WI 2220 对为高回报提供一个改进的导致特定投资组合解决方法在重要 LED 检验投资。

ICOS WI-2220 : 可升级的缺陷检验和所有权的被改进的费用在程序控制的 LED 的

ICOS WI-2220 自动化的光学检验功能帮助 LED 设备制造商认识到增加的产量和减少的生产成本。 使用 ICOS WI-2220,设备制造商能自动化检验更小中断禁止手工检查的范围和为更大中断要求迅速更正活动限制昂贵的材料风险的范围。 新的系统允许全部和切成小方块的薄酥饼的缺陷检验至 200mm,与在前和之后彀子检验的宏观检验区分 (即前线和支持者) LED 薄酥饼。

与在这个市场上的相似的产品今天比较, ICOS WI-2220 提供区分给重要,缺陷当使进程引入的噪声减到最小差异和提供未清超出和 underkill 性能 (中断错误分类) 以高检验速度。  由于新的所有权检验和数据处理技术,新的系统也提供低图象畸变 (RBB),先进光学过滤,基于规则 binning 实时自动缺陷分类的和先进的计量学功能在高检验处理量。 这通过产量垒间线改善,游览控制以及被改进的 dispositioning 在制造过程中启用增加的产量在发出的质量管理检验。

ICOS WI-2220 与坎德拉 LED 未成形的薄酥饼检查系统一道运作提供全面,产量改进检验覆盖范围给前端线路,包括分析为试样结果、缺陷减少和游览控制。 此外, ICOS WI-2220 是可升级的对灵活配置的 ICOS WI-2250。

来源: http://www.kla-tencor.com/

Last Update: 11. January 2012 12:08

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