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Posted in | Microscopy

Lancement de Bruker le Premier Système Extérieur De non contact et En trois dimensions de Métrologie

Published on February 15, 2011 at 5:24 PM

Bruker Corporation (NASDAQ : BRKR) annoncés aujourd'hui le NPFLEXLA, le premier système extérieur de non contact et en trois dimensions de métrologie pour fournir l'angle de dérive quantitatif et surface donnent à des mesures une consistance rugueuse pour le contrôle et la réduction de fuite liquide des surfaces d'étanchéité dynamiques rotatoires.

Le NPFLEX-LA combine les avantages intrinsèques de Bruker jauge-capables, la technologie 3D de profilage optique interférométrie-basée avec des capacités neuves de métrologie de brevet en instance pour mesurer quantifiably l'angle de dérive de tige et la texture de surface des surfaces d'étanchéité dans une solution unique et intégrée. A Conçu pour exécuter l'indépendant extrêmement précis de métrologie de la chaîne de partie, niveau, concentricité ou les incohérences de montage, le NPFLEX-LA comporte également une interface utilisateur profilée de production qui permet à l'installation rapide et aux critères facilement réglés de passage/défaillir de recenser et/ou jeter des entailles, des bavures, et des brouillons d'une surface mesurée sur une tige usinée.

« L'automobile moyenne a les nombreux visas dynamiques qui peuvent défaillir, » Stanley Smith, Conseiller et Expert Industriel expliqué dans des Surfaces D'étanchéité. Les « Défaillances attribuées aux visas disjoints ont coûté les dizaines d'industrie de transport et d'équipement d'alimentation de millions de dollars par an dans des coûts, des rappels et des fines de garantie. Donné mes 50 années d'expérience de l'industrie de joint, elle est très passionnante pour voir que Bruker a proposé une mesure novatrice et de non contact pour l'angle de dérive de tige. Le NPFLEX-LA permettra à l'industrie de chasse aux phoques de continuer à piloter le développement de calendrier de lancement au delà des designs existants et à réaliser des objectifs de garantie à un coût réduit. »

« Le NPFLEX-LA est un système rapide, facile à utiliser et reproductible de métrologie de la surface 3D qui résout non seulement un problème de usinage d'industrie de précision critique, mais fait ainsi avec la confiance de la technologie prouvée et robuste de Bruker d'interférométrie, » a dit Ross Q. Smith, Vice Président et Directeur Général du Stylet de Bruker et des Affaires Optiques de Métrologie. « Le NPFLEX-LA fournit au transport et aux industries relatives une solution de métrologie de précision qui aidera à répondre à des règlements et à des normes environnementaux internationaux d'émissions en confirmant que les processus de fabrication produisent des pièces de surface d'étanchéité aux tolérances exigées. »

Au Sujet de la Famille de Produits de Bruker NPFLEX

Le Bruker NPFLEX et les instruments optiques de métrologie de NPFLEX-LA emploient un design de portique de découverte pour fournir plus de 300 degrés d'accès pour de grands échantillons. Une seule option principale optique pivotante permet l'enquête courante sur les échantillons fortement incurvés et les arêtes biseautées. Le NPFLEX-LA emploie un design facile à utiliser, de trois-maxillaire de mandrin pour tenir compte du montage des tiges pour des mesures de texture d'angle de dérive et de surface. NPFLEX et NPFLEX-LA utilisent la technologie extérieure du dixième-rétablissement de Bruker, de non contact, interférométrie-basé, de la métrologie 3D pour fournir la densité d'enregistrement de grande précision, de répétabilité, de souplesse et de données comparée aux techniques de mesure équivalentes de contact. D'Autres fonctionnalités standard comprennent de longs objectifs de distance de fonctionnement, un seul système objectif de crashes-atténuation, une automatisation et le logiciel zone-piquant, et breveté, illumination du l'ultra-uniforme double-LED.

La famille de produits de NPFLEX comporte également la plate-forme logiciel du leader Vision64 de Bruker avec le traitement en simultanéité pour la performance améliorée et la capacité, qui permet d'accéder à plus de 200 analyses distinctes, et plus de 1.000 paramètres critiques pour l'angle de dérive de mesure, lordose, configuration, défrayant le taux, l'usure, la corrosion, et d'autres paramètres principaux.

Last Update: 12. January 2012 19:24

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