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新書介紹前沿的納米在AFM成像和光譜學研究進展

Published on March 2, 2011 at 5:56 PM

新書,“掃描探針顯微鏡功能材料,”編輯的橡樹嶺國家實驗室和阿列克謝 Gruverman內布拉斯加大學博士謝爾蓋加里寧,介紹了在原子力領域 /尖端的納米級成像和光譜學的進步掃描探針顯微鏡。

該卷包括18所一流大學的文章,美國政府和行業研究人員,其中包括三個羅傑Proksch博士撰寫或合作撰寫 ,庇護研究,在掃描探針/原子力顯微鏡(AFM / SPM)技術的領先者。最近的研究在掃描探針顯微鏡的發展產生了顯著進展,這本新書,有望成為在該領域的開創性工作。

評論的作者和庇護研究主席,羅傑 Proksch,“這本新書,包括關於一個範圍廣泛的新技術,延長 SPMS功能,並迅速起床速度的最新發展有興趣的讀者是一個很好的概述的論文。很高興作者的論文,這說明了一些令人振奮的新功能,我們已經納入到我們的MFP - 3D和徽原子力顯微鏡,包括帶激勵,雙 AC共振跟踪(DART),壓電響應力顯微鏡(PFM)的的三Ztherm調製熱分析。“

“真正的SPM已成為一個重要的表徵工具,而不僅僅是選定的科學學科,但對於一般的納米科學和技術領域,指出:”阿列克謝 Gruverman,共同主編的書和內布拉斯加 - 林肯大學副教授。 “這本書提出了一個描述各種功能材料,如複合氧化物,生物聚合物和半導體納米研究的不斷發展技術最先進的模式快照。”

“這本書的中心任務之一是在SPM的新興領域,如納米熱分析,帶激勵,化學成像質量光譜檢測,以及異國情調的SPM和重點 X組合,提供最近的事態發展概述射線方法,僅舉幾例,補充說:“謝爾蓋加里寧,共同主編的書和納米材料在橡樹嶺中心副主任科員。 “這本書的獨特之處是其尖端的研究和SPM發展領先的SPM公司,現在已成為學術界,政府,以及剛剛在全球領先的研究實驗室的工業實驗室以及技術的一個很強的代表性。 “

Last Update: 3. October 2011 10:03

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