Звонок для Конспектов для 2-ой Международной Мастерской для Просматривая Микроскопии Зонда для Применений Энергии

Published on April 11, 2011 at 7:30 PM

Конспекты для обоих устных представлений и встречи плаката теперь принимаются для 2-ой Международной Мастерской для Просматривая Микроскопии для Применений Энергии, 8-ое-10 июня 2011 Зонда, на Максимальном Институте Planck для Полимеров (MPIP) в Майнц, Германия, co-спонсированное изготовлением AFM, Исследование Убежища.

Мастерская сфокусирует на делить новое и новаторское исследование включая характеризацию микроскопических фотоэлемента опоры механизмов, батареи, и деятельностей отсека топливного бака, и материалов используемых для применений альтернативной энергии на нанометре к ряду микрона. Недавние выдвижения/методы в SPM/AFM используемом к, котор характеризуют материалам и системам энергии уместным также будут адресованы. Краиний Срок для абстрактного представления 20-ое мая 2011. Ходатайствованные абстрактные темы включают, но не ограничены:

  • Отображать динамики несущей и фото-наведенное поведение фотовольтайческих материалов
  • Ионный & электронный переход в отсеках топливного бака и батареях лити-иона
  • Воображение Энергии, и диссипации энергии возбуждением SPM multimodal и диапазона
  • Новые выдвижения/методы SPM для характеризовать материалы включая электрохимические микроскопию напряжения, резонанс контакта, multi-режимные методы, и
  • Микро--Raman и NSOM, и зонды прикладные в поле применения энергии.

2-ая Международная Мастерская для Просматривая Микроскопии Зонда для Применений Энергии co-спонсирована MPIP и Исследованием Убежища, руководителем технологии в Атомных Усилии/Микроскопии Зонда Скеннирования. Дополнительная информация на повестке дня, приглашенные дикторы, абстрактное представление, и зарегистрирование можно найти на вебсайте конференции: www.mpip-mainz.mpg.de/symposium/spm2011.

Last Update: 11. January 2012 07:54

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit