Integración sin Fisuras de la Microscopia Pálida y de las Imágenes del AFM

Published on April 19, 2011 at 7:20 PM

Los Instrumentos de JPK, un fabricante mundo-de cabeza de instrumentación nanoanalytic para la investigación en ciencias de la vida y materia suave, proporcionan a un paquete de programas informáticos único para hacer la visualización de las imágenes de la microscopia pálida así como imágenes atómicas de la microscopia de la fuerza un ejercicio inconsútil. Este conjunto se llama DirectOverlay.

La microscopia Atómica de la fuerza (AFM) es una herramienta potente para investigar una gran variedad de diversas muestras con la resolución de la escala de los nanómetros bajo condiciones fisiológicas. Así como proporcionar a mediciones topográficas, la información sobre fuerzas de la acción recíproca y las propiedades mecánicas como la adherencia y la elasticidad pueden también ser obtenidas. La integración Perfecta del AFM con un ajuste óptico puede aumentar el rango de aplicaciones y abrir muchas posibilidades para correlacionar la información estructural con la información óptica tal como etiqueta functionalized de ciertos componentes.

Un ejemplo de la potencia de DirectOverlay de JPK: Una imagen de la fluorescencia destaca tres moléculas etiqueta individuo de la DNA mientras que la imagen 3D empinadura hacia adentro a una imagen de alta resolución de 700nm AFM. (Cortesía de la Muestra del Dr. M. Modesti, CS$CNRS Marsella)

Para lograr la combinación perfecta de la óptica y del AFM en la escala molecular, las distorsiones deben ser prevenidas. Esto dará lugar a dos imágenes, tales como imágenes ópticas y del AFM, que no cubren perfectamente. Las Razones de distorsiones incluyen las aberraciones que se presentan de los lentes y de los espejos del sistema de la óptica. El Este estirar no lineal, la rotación y la compensación de imágenes ópticas están presentes en casi todos los tipos de ajustes ópticos.

Para generar un papel inconsútil de ambas técnicas, JPK desarrolló un método punta de la calibración, llamado DirectOverlay, que utiliza la exactitud del sistema a circuito cerrado de la exploración del AFM para activar una visualización verdadera de ángulos y de coordenadas absolutos de la longitud. El procedimiento de la calibración se hace automáticamente y utiliza las posiciones sabidas y los desplazamientos del voladizo para calibrar la imagen óptica en el AFM coordinan. Para generar un complemento perfecto del óptico e imagen del AFM, 25 o más puntas se utilizan en el algoritmo de la calibración. En cada punta, se detecta una imagen óptica y la posición de la punta voladiza se detecta automáticamente en cada imagen óptica sin la necesidad de la entrada de información respecto a ángulo, a dimensión de una variable o a la magnificación voladiza. El algoritmo entonces realiza una conversión no lineal y, como consecuencia, la imagen óptica se corrige para cualquier imperfección del lente y convertido en la longitud linearizada del AFM coordina. Esto proporciona a una integración perfecta de óptico y los datos del AFM con la sub-difracción limitan la precisión.

Finalmente, la imagen óptica calibrada se transfiere en el software de JPK SPM, para poder seleccionar regiones de la exploración del AFM dentro de la imagen óptica. Dirija “en la selección de la imagen óptica” de mediciones del AFM (proyección de imagen, correspondencia y espectroscopia de la fuerza) lleva a experimentos más eficientes y reduce dramáticamente la exploración de la imagen de la reseña en el AFM.

Last Update: 12. January 2012 17:13

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