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光学顕微鏡検査および AFM の画像のシームレス統合

Published on April 19, 2011 at 7:20 PM

JPK の器械、世界一流の製造業者および生命科学の研究のための nanoanalytic 器械使用の柔らかい問題は、原子力の顕微鏡検査の画像とともに光学顕微鏡検査の画像の表示に継ぎ目が無い練習をするために一義的なソフトウエアパッケージを提供します。 このパッケージは DirectOverlay と呼出されます。

原子力の顕微鏡検査は (AFM)生理学的な条件の下でナノメーターのスケールの解像度のいろいろ異なったサンプルを調査する強力なツールです。 地勢測定の提供と同様、付着および伸縮性のような相互作用力そして機械特性についての情報はまた得ることができます。 光学セットアップの AFM の完全な統合は応用範囲を増加し、ある特定のコンポーネントの functionalized 分類のような光学情報に構造的情報を関連させるために多くの可能性を開発できます。

JPK からの DirectOverlay の力の例: 蛍光性の画像は 3D 画像が高リゾリューション 700nm AFM の画像に急上昇する間、 3 つの個人によって分類される DNA の分子を強調します。 (先生の M. Modesti、 CNRS マルセーユサンプル礼儀)

分子スケールで光学および AFM の完全な組合せを達成するためには、ゆがみは防がれなければなりません。 これは 2 つの画像で、完全に上にあらない光学および AFM の画像のような起因します。 ゆがみの理由は光学システムのレンズそしてミラーから起こる異常を含んでいます。 光学画像のこの非線形伸び、回り、そして相殺はほぼすべてのタイプの光学セットアップにあります。

両方の技術の継ぎ目が無いオーバーレイを生成するためには、 JPK は絶対角度および長さの座標の本当の表示を可能にするのに AFM のクローズド・ループスキャンシステムの正確さを使用する DirectOverlay と呼出された最先端の口径測定方法を開発しました。 口径測定プロシージャは自動的に行われ、知られていた位置を使用し、 AFM に光学画像に目盛りを付ける片持梁のオフセットは調整します。 光学の完全なマッチを生成するためおよび AFM の画像、 25 のまたはより多くのポイントは口径測定のアルゴリズムで使用されます。 各ポイントで、光学画像は得られ、片持梁角度、形または拡大の各々の光学画像の片持梁先端の位置は自動的に入力を必要としないで検出されます。 アルゴリズムはそれから非線形変換を行い、その結果、光学画像はあらゆるレンズの欠陥を修正され、一直線に並べられた AFM の長さに変換されて調整します。 これは光学の完全な統合を提供し、副回折の AFM データは精密を限定します。

最後に、目盛りを付けられた光学画像は JPK SPM のソフトウェアに AFM スキャン領域が光学画像の内で選ぶことができるように、転送されます。 で 「AFM の測定 (イメージ投射、マップおよび力の分光学) の光学画像」の選択を導き、より効率的な実験に劇的に減らします AFM の概要の画像のスキャンを指示して下さい。

Last Update: 12. January 2012 18:13

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