Site Sponsors
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

Integração Sem Emenda da Fotomicroscopia E das Imagens do AFM

Published on April 19, 2011 at 7:20 PM

Os Instrumentos de JPK, um fabricante mundo-principal da instrumentação nanoanalytic para a pesquisa nas ciências da vida e matéria macia, fornecem um pacote de software original para fazer ao indicador de imagens da fotomicroscopia junto com imagens atômicas da microscopia da força um exercício sem emenda. Este pacote é chamado DirectOverlay.

A microscopia Atômica da força (AFM) é uma ferramenta poderosa para investigar uma variedade enorme de amostras diferentes com definição da escala dos nanômetros sob circunstâncias fisiológicos. E também o fornecimento de medidas topográficas, a informação sobre forças da interacção e as propriedades mecânicas como a adesão e a elasticidade podem igualmente ser obtidas. A integração Perfeita do AFM com uma instalação óptica pode aumentar a escala de aplicações e abrir muitas possibilidades para correlacionar a informação estrutural com a informação óptica tal como a rotulagem functionalized de determinados componentes.

Um exemplo da potência de DirectOverlay de JPK: Uma imagem da fluorescência destaca três moléculas etiquetadas indivíduo do ADN quando a imagem 3D zumbir dentro a uma imagem de alta resolução de 700nm AFM. (Cortesia da Amostra do Dr. M. Modesti, CNRS Marselha)

Para conseguir a combinação perfeita de sistema ótico e de AFM na escala molecular, as distorções devem ser impedidas. Isto conduzirá a duas imagens, tais como as imagens ópticas e do AFM, que não overlay perfeitamente. As Razões para distorções incluem as aberrações que elevaram das lentes e dos espelhos do sistema do sistema ótico. Este esticão não-linear, o giro e o deslocamento de imagens ópticas estam presente em quase todos os tipos de instalações ópticas.

Para gerar uma folha de prova sem emenda de ambas as técnicas, JPK desenvolveu um método pioneiro da calibração, chamado DirectOverlay, que usa a precisão do sistema da exploração do circuito fechado do AFM para permitir um indicador verdadeiro de ângulos e de coordenadas absolutos do comprimento. O procedimento da calibração é feito automaticamente e usa as posições conhecidas e os offsets do modilhão para calibrar a imagem óptica no AFM coordenam. Para gerar um fósforo perfeito do óptico e imagem do AFM, 25 ou mais pontos são usados no algoritmo da calibração. Em cada ponto, uma imagem óptica é adquirida e a posição da ponta do modilhão é detectada automaticamente em cada imagem óptica sem precisar a entrada sobre o ângulo, a forma ou a ampliação do modilhão. O algoritmo executa então uma conversão não-linear e, em conseqüência, a imagem óptica é corrigida para todas as imperfeições da lente e convertido no comprimento tornado linear do AFM coordena. Isto fornece uma integração perfeita de óptico e os dados do AFM com secundário-difracção limitam a precisão.

Finalmente, a imagem óptica calibrada é transferida no software de JPK SPM, de modo que as regiões da varredura do AFM possam ser seleccionadas dentro da imagem óptica. Dirija “a selecção na imagem óptica” de medidas do AFM (imagem lactente, traço e espectroscopia da força) conduz a umas experiências mais eficientes e reduz dramàtica a exploração da imagem da vista geral no AFM.

Last Update: 12. January 2012 17:44

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit