光學顯微學和 AFM 圖像的無縫集成

Published on April 19, 2011 at 7:20 PM

JPK 儀器, nanoanalytic 手段世界領先的製造商研究的在生命科學和軟的問題,提供唯一軟件包與基本強制顯微學圖像一起做光學顯微學圖像顯示無縫的執行。 此程序包稱 DirectOverlay。

基本強制顯微學 (AFM)是調查與毫微米縮放比例解決方法的各種各樣不同的範例的一個強大的工具在生理情況下。 並且提供地形學評定,關於交往強制的信息和像黏附力和彈性的機械性能可能也獲得。 AFM 的理想的綜合化與一個光學設置的可能增加應用範圍和為關聯結構信息打開許多可能性與光學信息例如 functionalized 標記某些要素。

DirectOverlay 的功率的示例從 JPK 的: 當這個 3D 圖像放大到高分辨率 700nm AFM 圖像時,熒光圖像顯示三個單個被標記的脫氧核糖核酸分子。 (範例禮貌 CNRS 馬賽) 博士 M. Modesti,

要達到光學和 AFM 的理想的組合在這個分子縮放比例,必須防止畸變。 這導致二個圖像,例如光學和 AFM 圖像,不完全躺在。 畸變的原因包括出現從光學系統的透鏡和鏡子的變型。 此非線性舒展,轉動和抵銷光學圖像是存在接近光學設置的所有類型。

要生成兩個技術無縫的重疊, JPK 開發一個最尖端的定標方法,稱 DirectOverlay,使用 AFM 閉環掃描系統的準確性啟用绝對角度和長度坐標一個真的顯示。 定標程序自動地完成并且使用已知的位置,并且校準光學圖像的懸臂的抵銷到 AFM 協調。 生成理想的符合光學和 AFM 圖像, 25 或更多點用於定標算法。 在每點,一個光學圖像獲取,并且這個懸臂式技巧的位置自動地被檢測在每個光學圖像,无需需要輸入在懸臂式角度、形狀或者放大。 這個算法然後執行一個非線性轉換,并且,結果,光學圖像為所有透鏡缺點被更正,并且轉換成線性化的 AFM 長度協調。 這提供理想的綜合化光學,并且與子衍射的 AFM 數據限制精確度。

終於,這個被校準的光學圖像調用到 JPK SPM 軟件,因此 AFM 掃描地區可以在光學圖像內被選擇。 處理 「在 AFM 評定 (想像的光學圖像」選擇,映射和強制分光學) 導致更加高效的實驗并且顯著減少概覽在 AFM 的圖像掃描。

Last Update: 26. January 2012 17:52

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