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Sistema del Helios NanoLab DualBeam para las Aplicaciones Múltiples

Por Cameron Chai

FEI entregó hoy recientemente el 250o sistema del Helios NanoLab DualBeam. La solución ofrece el funcionamiento que ayudará a problemas de direccionamiento referente fomentar a tecnología y a ciencias multidisciplinarias, según John Williams, vicepresidente del márketing, FEI de SEM y de la BOLA.

Está siendo ejecutada por los productores del semiconductor para la investigación y desarrollo, los laboratorios de investigación académica e industrial para el análisis material y reduciendo proporcionalmente a una talla del nanómetro y en ciencias de la vida y aceite y las industrias petroleras. Estas aplicaciones múltiples han sido activadas por su proyección de imagen tridimensional en cualquier material, sin el daño del material, en el nanoscale.

La serie es versátil e incorpora el microscopio electrónico de exploración de la HORA de la compañía (XHR SEM) con un haz de ión enfocado (FIB), para la proyección de imagen aumentada y la capacidad fresada.

Fuente: http://www.fei.com

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