Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
Posted in | Nanoenergy

Système d'Hélios NanoLab DualBeam pour des Applications Multiples

Published on April 25, 2011 at 4:14 AM

Par Cameron Chai

FEI aujourd'hui a récent fourni le 250th système d'Hélios NanoLab DualBeam. La solution offre la performance de SEM et de BOBARD qui aidera des problèmes d'adresse concernant promouvoir la technologie et les sciences pluridisciplinaires, selon John Williams, vice président du marketing, FEI.

Elle est mise en application par des producteurs de semi-conducteur pour la recherche et développement, par les laboratoires de recherche scolaires et industriels pour l'analyse matérielle et la réduction à une taille de nanomètre et en sciences de la vie et pétrole et industries du gaz. Ces applications multiples ont été activées par sa représentation en trois dimensions sur n'importe quel matériau, sans endommager le matériau, au nanoscale.

La suite est versatile et comporte le microscope électronique de lecture de l'HEURE de la compagnie (XHR SEM) avec un faisceau d'ions orienté (FIB), pour la représentation améliorée et la capacité de fraisage.

Source : http://www.fei.com

Last Update: 12. January 2012 17:32

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit