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Posted in | Nanoenergy

多种应用软件的 Helios NanoLab DualBeam 系统

Published on April 25, 2011 at 4:14 AM

卡梅伦柴

FEI 最近今天提供了 250th Helios NanoLab DualBeam 系统。 这个解决方法提供将帮助着手解决问题与促进多重学科的技术和科学相关,根据约翰・威廉斯,市场营销的副总裁的 SEM 和小谎性能, FEI。

它被实施由研究与开发的半导体生产者,通过材料分析的学术和产业研究实验室和缩减对毫微米范围和在生命科学和石油 & 天然气产业。 这些多种应用软件由其在所有材料的三维想象启用了,无需损坏材料,在 nanoscale。

串联是多才多艺的并且合并公司的 HR 扫描电子显微镜 (XHR SEM) 有集中的离子束的 (FIB),改进的想象和碾碎的功能的。

来源: http://www.fei.com

Last Update: 12. January 2012 18:04

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