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多種應用軟件的 Helios NanoLab DualBeam 系統

Published on April 25, 2011 at 4:14 AM

卡梅倫柴

FEI 最近今天提供了 250th Helios NanoLab DualBeam 系統。 這個解決方法提供將幫助著手解決問題與促進多重學科的技術和科學相關,根據約翰・威廉斯,市場營銷的副總裁的 SEM 和小謊性能, FEI。

它被實施由研究與開發的半導體生產者,通過材料分析的學術和產業研究實驗室和縮減對毫微米範圍和在生命科學和石油 & 天然氣產業。 這些多種應用軟件由其在所有材料的三維想像啟用了,无需損壞材料,在 nanoscale。

串聯是多才多藝的并且合併公司的 HR 掃描電子顯微鏡 (XHR SEM) 有集中的離子束的 (FIB),改進的想像和碾碎的功能的。

來源: http://www.fei.com

Last Update: 26. January 2012 17:52

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