Bruker 维数 FastScan AFM 聘用改进了与 Nanoscale 解决方法的想象速度

Published on May 3, 2011 at 10:24 AM

Bruker 宣布了创新和唯一维数 FastScanTM 基本强制显微镜 (AFM),提供在被改进的想象速度的重大的突破,无需牺牲 nanoscale 解决方法。

维数 FastScan 比对其他商业 AFM 系统使用户快速地从事数百时期可能的,传送导致秒钟或分钟而不是几小时或几天。 FastScan 系统设置性能的新的在大范例的黄金本位制和生产率,在科学,生物,半导体、数据存储和能源研究市场间的基本缩放比例想象。

Bruker 维数 FastScan - 突破在 AFM 技术

刺激由持续增长的需求观察和更好了解材料在 nanoscale,世界的广泛使用的 AFM 平台功能许多技术革新的最新的成员启用快速扫描速度、高分辨率和准确性一个理想的平衡。 基于非常成功的维数图标 AFM 结构, FastScan AFM 是 在航空或流体的大和小型范例提供评定的技巧扫描系统。

“维数 FastScan 认识到其中一个 AFM 技术的 Bruker 的目标,是使我们的客户是有生产力没有丢失的解决方法或灵活性。 达到在这样惊人地短的时间的最优质的图象是突破经验”,标记 R. Munch, Ph.D 说。, Bruker 纳诺表面分部的总统。 他继续了: “以三十八个专利加剧其突破, FastScan 提供研究员唯一能力为要求以前就是不是可用的在研究级别 AFM 的更高的扫描速度的新建应用程序使用基本强制显微学”。

“维数 FastScan 表示我们持续的承诺给科学界通过高效提供存取对于 nanoscale 信息”,被添加的大卫 V. Rossi、 Bruker 的 AFM 商业的副总统和总经理。 “我们新的 FastScan,与其他最近 Bruker AFM 技术突破一道,例如 ScanAsyst 和 PeakForce QNM,提供在生产率的重大的改善以及启用提供新的定量信息在 nanoscale,并且使 AFMs 更加容易由象的学术界和的行业使用的技术”。

Last Update: 12. January 2012 17:29

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