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Bruker 維數 FastScan AFM 聘用改進了與 Nanoscale 解決方法的想像速度

Published on May 3, 2011 at 10:24 AM

Bruker 宣佈了創新和唯一維數 FastScanTM 基本強制顯微鏡 (AFM),提供在被改進的想像速度的重大的突破,无需犧牲 nanoscale 解決方法。

維數 FastScan 比對其他商業 AFM 系統使用戶快速地從事數百時期可能的,傳送導致秒鐘或分鐘而不是幾小時或幾天。 FastScan 系統設置性能的新的在大範例的黃金本位制和生產率,在科學,生物,半導體、數據存儲和能源研究市場間的基本縮放比例想像。

Bruker 維數 FastScan - 突破在 AFM 技術

刺激由持續增長的需求觀察和更好瞭解材料在 nanoscale,世界的廣泛使用的 AFM 平臺功能許多技術革新的最新的成員啟用快速掃描速度、高分辨率和準確性一個理想的平衡。 基於非常成功的維數圖標 AFM 結構, FastScan AFM 是 在航空或流體的大和小型範例提供評定的技巧掃描系統。

「維數 FastScan 認識到其中一個 AFM 技術的 Bruker 的目標,是使我們的客戶是有生產力沒有丟失的解決方法或靈活性。 達到在這樣驚人地短的時間的最優質的圖像是突破經驗」,標記 R. Munch, Ph.D 說。, Bruker 納諾表面分部的總統。 他繼續了: 「以三十八個專利加劇其突破, FastScan 提供研究員唯一能力為要求以前就是不是可用的在研究級別 AFM 的更高的掃描速度的新建應用程序使用基本強制顯微學」。

「維數 FastScan 表示我們持續的承諾给科學界通過高效提供存取對於 nanoscale 信息」,被添加的大衛 V. Rossi、 Bruker 的 AFM 商業的副總統和總經理。 「我們新的 FastScan,與其他最近 Bruker AFM 技術突破一道,例如 ScanAsyst 和 PeakForce QNM,提供在生產率的重大的改善以及啟用提供新的定量信息在 nanoscale,并且使 AFMs 更加容易由像的學術界和的行業使用的技術」。

Last Update: 26. January 2012 18:37

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