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Posted in | Nanoanalysis

FEI Offre le Niveau Atomique EDX En Travers du Tableau Périodique avec ChemiSTEM

Published on May 3, 2011 at 7:09 PM

Compagnie de FEI (NASDAQ : FEIC), une principale compagnie d'instrumentation fournissant des systèmes pour la recherche et l'industrie, aujourd'hui annoncés qu'elle étend sa Technologie de ChemiSTEM pour activer, pour la première fois, la spectroscopie dispersive du Rayon X d'énergie niveau atomique (EDX) en travers de la table périodique. La combinaison du courant accru dans une sonde de taille atomique par Cs-Correction et l'augmentation de la sensibilité de dépistage de Rayon X et du courant de poutre de la Technologie de ChemiSTEM permet à des résultats d'être obtenus en quelques minutes.

« La puissante combinaison de la Technologie d'inauguration de ChemiSTEM et d'un correcteur d'aberration offre de seules capacités pour la science des matériaux, » a dit Professeur Ferdinand Hofer d'Université De Technologie de Graz, Autriche. « Une des demandes les plus importantes de technologie neuve sera représentation élément-particulière à la définition atomique. Nous nous appliquerons la technologie aux surfaces adjacentes d'étude en semi-conducteurs, matériaux de pile solaire, LED et matériaux céramiques avec la sensibilité et l'exactitude précédemment inconnues de dépistage. »

George Scholes, le vice président de FEI pour la gestion du produit, ajoute, « La Technologie de ChemiSTEM permettra à des résultats de découverte dans on des domaines d'application de clé pour nos abonnées, telles que la catalyse, la métallurgie, la microélectronique, et les matériaux verts d'énergie, de nommer quelques uns. Par exemple, dans une expérience récente avec la Technologie de ChemiSTEM, notre abonnée pouvait résoudre de manière dégagée la structure de noyau-SHELL des nanoparticles du catalyseur 5nm en environ trois mn et avec une définition de trois fois plus grande de pixel qu'une expérience précédente avec la technologie conventionnelle. Et la technologie conventionnelle a échoué après trois heures de collecte des informations pour résoudre de manière dégagée la même structure. »

La Technologie de ChemiSTEM réalise un facteur de 50 améliorations ou plus dans la vitesse du mappage élémentaire d'EDX sur les microscopes électroniques de lecture/boîte de vitesses (S/TEMs) comparés à la technologie conventionnelle utilisant les détecteurs normaux de Silicium-Chassoir d'EDX (SDDs) et les sources normales d'électron de Schottky-FEG. Il combine la source de propriété industrielle d'électron d'intense luminosité du X-FEG de FEI, fournissant jusqu'à cinq fois plus de courant de poutre à une résolution spatiale donnée ; le système de dépistage Superbe-x de brevet en instance, fournissant jusqu'à dix fois ou plus de sensibilité de dépistage dans EDX ; et l'électronique rapide de lecture, capable de réaliser des tarifs spectraux d'EDX de jusqu'à 100.000 spectres par seconde. Supplémentaire, le design sans fenêtres de détecteur utilisé pour chacun de détecteurs intégrés du SDD de la Technologie quatre de ChemiSTEM a prouvé pour optimiser le dépistage de la lumière et des éléments lourds.

Cette combinaison de sensibilité élevée de dépistage et tarifs spectraux élevés de jusqu'à 100.000 spectres par seconde activent un meilleur mappage d'EDX des matériaux qui sont extrêmement sensibles aux dégâts de faisceau d'électrons, tels que l'analyse de composition dans des puits de tranche de temps de Nitrure de Galliums d'Indium de nanomètre-échelle utilisés dans des dispositifs du light emitting diode (LED), et des dispositifs de semi-conducteur avec les matériaux potentiellement mobiles de dopant, ainsi que de beaucoup d'autres des dispositifs utilisés en nanotechnologies apparaissantes.

Last Update: 12. January 2012 17:32

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