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Posted in | Nanoanalysis

FEI는 ChemiSTEM를 가진 주기율표를 통해 원자 수준 EDX를 제안합니다

Published on May 3, 2011 at 7:09 PM

FEI 회사 (NASDAQ: FEIC), 처음으로, 원자 수준 에너지 주기율표를 통해 흩어진 엑스레이 (EDX) 분광학을 가능하게 하기 위하여 ChemiSTEM 그것의 기술을 확장하고 있다는 것을 오늘 알려지는 연구와 기업을 시스템을 제공해 주요한 기계 사용 회사. Cs 개정에 의하여 원자 치수가 재진 탐사기 및 엑스레이 탐지 감도에 있는 증가에 있는 증가한 현재 및 ChemiSTEM 기술의 光速 현재의 조합은 결과가 몇 분 안에 장악되는 것을 허용합니다.

"기공 ChemiSTEM 기술 및 착오 교정자의 강력한 조합 재료 과학을 위한 유일한 기능을 제안합니다,"는 기술의 Graz 대학, 오스트리아의 교수를 말했습니다 Ferdinand Hofer. "신기술을 위한 가장 중요한 응용의 한개는 원자 해결책에 성분 특정 화상 진찰일 것입니다. 우리는 이전에 불명한 탐지 감도 및 정확도를 가진 반도체, 태양 전지 물자, LEDs 및 도재에 있는 연구 결과 공용영역에 적용할 것입니다 기술을."

부사장 조지 Scholes는, 제품 관리를 위한 FEI의, "ChemiSTEM 기술 약간을 지명하는 가능하게 할 것입니다 많은 것에 있는 돌파구 결과를 우리의 고객을 위한 키 응용 범위 촉매 작용 야금술, 마이크로 전자공학 및 녹색 에너지 물자와 같은, 덧붙입니다. 예를 들면, ChemiSTEM 기술을 가진 최근 실험에서, 우리의 고객은 명확하게 대략 3 분에 있는 그리고 3 전통적인 기술을 가진 이전 실험 보다는 시간 더 중대한 화소 해결책을 가진 5nm 촉매 nanoparticles의 코어 쉘 구조물을 해결할 수 있었습니다. 그리고 전통적인 기술은 정보 수집의 3 시간 후에 명확하게 동일 구조물을 해결하지 못했습니다."

ChemiSTEM 기술은 표준 EDX 실리콘 편류 검출기 및 표준 Schottky FEG 전자 근원을 채택하는 전통적인 기술과 비교되는 스캐닝/전송 전자현미경 (S/TEMs)에 EDX 원소에게 지도로 나타내기의 속도에 있는 50 달성합니다 또는 (SDDs) 추가 증진의 요인을. 그것은 FEI의 주어진 공간적 해상도에 5 까지 시간 추가 光速 현재를 제공하는 소유 X-FEG 높은 광도 전자 근원을 결합합니다; 특허 팬딩되어 있는 최고 X 검출 시스템, EDX에 있는 10 까지 시간 또는 추가 탐지 감도 제공; 그리고 초당 100,000까지 스펙트럼의 EDX 괴기한 비율 달성 가능한 단단 스캐닝 전자공학. 게다가, 창문 없는 검출기 디자인은 ChemiSTEM 기술 4의 통합한 SDD 검출기의 각각을 위해 빛과 중원소 둘 다의 탐지를 낙관하는 것을 입증했습니다 고용했습니다.

높은 탐지 감도의 이 조합 및 초당 100,000까지 스펙트럼의 높은 괴기한 비율은 잠재적으로 이동할 수 있는 반도체에 첨가하는 소량의 불순물 물자를 가진 발광 다이오드 (LED) 장치 및 반도체 소자에서 이용된 나노미터 가늠자 인듐 갈륨 질화물 양 우물에 있는 구성 분석과 같은 전자빔 손상에 매우 민감한 물자, 뿐 아니라 많은 그 외의 더 나은 EDX 지도로 나타내를 나오는 나노 과학에서 사용된 장치 가능하게 하고 있습니다.

Last Update: 12. January 2012 17:39

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