Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
Posted in | Nanoanalysis

FEI Предлагает Атомный Уровень EDX Через Периодическую Таблицу с ChemiSTEM

Published on May 3, 2011 at 7:09 PM

Компания FEI (NASDAQ: FEIC), ведущая компания измерительного оборудования обеспечивая системы для исследования и индустрии, сегодня объявленные что она расширяет свою Технологию ChemiSTEM для того чтобы включить, для the first time, спектроскопию Рентгеновского Снимка энергии атомного уровня дисперсивную (EDX) через периодическую таблицу. Течение увеличенное сочетание из в атомн-определенном размер зонде Cs-Коррекцией и увеличением в чувствительности обнаружения Рентгеновского Снимка и токе пучка лучей Технологии ChemiSTEM позволяет результатам быть полученным в пределах минут.

«Мощное сочетание из возможности Технологии ChemiSTEM groundbreaking и предложений корректора аберрации уникально для материальной науки,» сказал Профессору Ferdinand Hofer Технологического Университета Граца, Австрии. «Одно из самых важных применений для новой технологии будет элемент-специфическим воображением на атомном разрешении. Мы приложим технологию к интерфейсам изучения в полупроводниках, материалах фотоэлемента, СИД и керамических материалах с ранее неизвестными чувствительностью обнаружения и точностью.»

Джордж Scholes, недостаток FEI - президент для управления продукцией, добавляет, «Технология ChemiSTEM позволит результаты прорыва в много зоны применения ключа для наших клиентов, как катализирование, металлургия, микроэлектроника, и зеленые материалы энергии, назвать несколько. Например, в недавнем эксперименте с Технологией ChemiSTEM, наш клиент мог ясно разрешить структуру сердечник-раковины nanoparticles катализатора 5nm в около 3 минутах и с разрешением пиксела 3 времен большим чем предыдущим экспериментом с обычной технологией. И обычная технология не сумела после 3 часов сбора данных ясно разрешить такую же структуру.»

Технология ChemiSTEM достигает фактора 50 или больше повышений в скорости отображать EDX изначальный на скеннировании/просвечивающих электронных микроскопах (S/TEMs) сравненных к обычной технологии используя стандартные детекторы Кремни-Смещения EDX (SDDs) и стандартные источники электрона Schottky-FEG. Он совмещает источник электрона высокой яркости X-FEG FEI собственнический, обеспечивая до 5 времен больше тока пучка лучей на, котор дали пространственном разрешении; доступного ожидания Супер-X система обнаружения, обеспечивающ до 10 времен или больше чувствительности обнаружения в EDX; и быстрая электроника скеннирования, способная достигать тарифов EDX спектральных до 100.000 спектров в секунду. Дополнительно, безоконная конструкция детектора использовала для каждого из детекторов SDD Технологии 4 ChemiSTEM интегрированных доказывала оптимизировать обнаружение как света, так и тяжелых элементов.

Эти чувствительность обнаружения сочетание из высокая и высокие спектральные тарифы до 100.000 спектров в секунду включают более лучший отображать EDX материалов которые сильно чувствительны к повреждению луча электронов, как анализ состава в колодцах суммы Нитрида Галлия Индия нанометр-маштаба используемых в приборах светоиспускающого диода (СИД), и полупроводниковых устройствах с потенциально передвижными материалами dopant, так же, как много других приборы используемые в вытекая нанотехнологиях.

Last Update: 12. January 2012 17:46

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit