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Posted in | Nanoanalysis

FEI 提供在周期表间的基本级别 EDX 与 ChemiSTEM

Published on May 3, 2011 at 7:09 PM

FEI 公司 (那斯达克: FEIC),提供系统的一家主导的手段公司为研究和行业,今天宣布它扩大其 ChemiSTEM 技术,第一次,启用基本级的在这个周期表间的能源分散性 X-射线 (EDX) 分光学。 增加的当前在 X-射线检测区分和 ChemiSTEM 技术的射线当前的组合在基本尺寸探测由电缆敷设船更正和增量的允许结果在几分钟内得到。

“开创性 ChemiSTEM 技术和变型纠正者的强大的组合提供材料学的唯一功能”,费迪南德 Hofer 教授说格拉茨科技大学,奥地利。 “其中一对新技术的最重要的申请将是要素特定想象在基本解决方法。 我们将适用技术于在半导体、太阳能电池材料、 LEDs 和陶瓷材料的研究界面与以前未知的检测区分和准确性”。

乔治 Scholes, FEI 的产品管理副总裁,补充说, “ChemiSTEM 技术将使在许多的突破结果关键字我们的客户的应用程序方面,例如催化、冶金学、微电子学和绿色能源材料,命名一些。 例如,在与 ChemiSTEM 技术的一个最近实验,我们的客户比与常规技术的一个早先实验能明显地解决 5nm 催化剂 nanoparticles 核心壳结构在大约三分钟之内和与三次更加巨大的象素解决方法。 并且常规技术没有在三时数数据收集以后能明显地解决同一个结构”。

ChemiSTEM 技术达到 50 种或更多改进系数在 EDX 基本映射的速度的在扫描/传输电子显微镜 (S/TEMs) 与使用标准 EDX 硅偏差探测器和标准 (SDDs)肖特基FEG 电子来源的常规技术比较。 它结合 FEI 的所有权 X-FEG 高亮度电子来源,提供五倍更多射线当前在一个特定空间分辨率; 专利待定超X 检测系统,提供十次或更多检测区分在 EDX; 并且快速扫描电子,能够达到 100,000 个光谱的 EDX 光谱费率每秒。 另外,无窗的探测器设计为 ChemiSTEM 技术的四集成的 SDD 探测器中的每一台使用了证明优选光和重元素的检测。

高检测区分的此组合和 100,000 个光谱的高光谱费率每秒启用是高灵敏对电子束故障,例如在毫微米缩放比例铟镓氮化物用于发光二极管的更好 EDX 映射材料 (LED) 设备和半导体设备的数量井的构成分析有可能地移动掺杂物材料的,以及许多其他用于涌现的纳米技术的设备。

Last Update: 12. January 2012 17:29

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