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Posted in | Nanoanalysis

費提供了跨週期表ChemiSTEM原子水平能譜

Published on May 3, 2011 at 7:09 PM

FEI公司 (納斯達克股票代碼:FEIC),提供系統的研究和產業領先的儀器儀表公司,今天宣布,這是擴大其ChemiSTEM技術,使第一次,原子級的能量色散X射線(EDX)能譜跨越元素週期表。增加電流在一個原子大小的探頭 CS校正和增加,在X射線檢測靈敏度和束電流的ChemiSTEM技術相結合,可以在幾分鐘之內獲得結果。

“開創性 ChemiSTEM的技術和像差校正功能強大的組合提供了獨特的功能材料科學,霍費爾,奧地利格拉茨技術大學教授說:”費迪南德。 “新技術的一個最重要的應用將特定元素的原子分辨率成像研究半導體中的接口,我們將應用技術,太陽能電池材料,LED和陶瓷材料與以前未知的檢測靈敏度和準確性。”

喬治斯科爾斯,FEI的產品管理副總,增加,ChemiSTEM技術將使許多關鍵的應用領域取得突破性成果為我們的客戶,如催化,冶金,微電子學,和綠色能源材料,,僅舉幾例。例如, ChemiSTEM技術在最近的實驗中,我們的客戶能夠清楚地解決 5NM催化劑納米粒子的核 - 殼結構,在約三分鐘,比以前的實驗與常規技術的3倍的像素分辨率和傳統技術,三次失敗後小時的數據收集,明確解決相同的結構。“

ChemiSTEM技術能譜元素映射掃描 /透射電子顯微鏡(S /電信設備製造商),相比傳統的用人標準能譜矽漂移探測器(SDDS)和標準的肖特基FEG電子源的技術速度達到 50個或更多增強的一個因素。它結合了FEI公司專有的X - FEG的高亮度電子源,提供最多在一個給定的空間分辨率五倍以上束電流;的正在申請專利的超級 - X檢測系統,提供高達十個倍或更多在EDX檢測靈敏度;和快速掃描電子產品,能夠實現 EDX光譜率高達每秒100,000個譜,的。此外,窗口探測器設計為每個 ChemiSTEM技術的四個集成的SDD探測器僱用證明,以優化輕,重元素的檢測。

這種高靈敏度與高光譜率每秒高達 100,000光譜組合,使高度敏感的電子束損傷,如成分分析在納米級氮化銦鎵量子井發光材料,更好的能譜映射二極管(LED)設備,並與潛在的流動性摻雜材料,以及許多其他新興納米技術使用的設備的半導體器件。

Last Update: 4. October 2011 19:16

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