JEOL ist atomarer Auflösung Transmission Electron Microscope (TEM), die JEM-ARM200F, setzt einen neuen Standard für die schnelle Wiederaufnahme des Betriebs nach dem Flashen, ein Routineverfahren mit einem TEM mit einem Kalten FEG Quelle durchgeführt.
Lange Zeit als ein Kompromiss für die höhere Auflösung, höhere Helligkeit und geringere Energie eines kalten FEG TEM verbreitet, degradiert Emission Stabilität durch Restgase im Bereich der Spitze. Bei herkömmlichen kalten FEG TEM, muss der Betreiber blinkt alle paar Stunden an die Spitze sauber, stören den Betrieb.
Die JEOL ARM200F Kalten FEG TEM hat die einzigartige Fähigkeit, "Flash & Go" ermöglicht das Mikroskop, um den Betrieb innerhalb von Sekunden wieder nach dem Flashen, statt der üblichen halben Stunde oder mehr, dass die meisten Nutzer des Kalten FEG TEM erwarten. Ein neu entwickeltes Vakuumsystem effektiv evakuiert die Umgebung des Kalten FEG Quelle bis zur Größenordnung von 1 x 10-9 Pa, was zu hervorragenden langfristigen Emissions-Stabilität.
Die ARM200F mit Cold Field Emission Gun stellt eine radikale Abkehr von elektronenoptischen Technologie erreichen beispiellose Bildauflösung von 78 Pikometer mit einer Auflösung von besser als 0,3-. Die höhere Helligkeit und schmaler Energieverteilung aktiviert durch den Kalten FEG werden durch die extrem stabile Emission optimiert, erheblich verbessert Atom-Atom-Bildgebung und chemische Analytik.