El Microscopio Electrónico Atómico de la Transmisión de la resolución de JEOL (TEM), el JEM-ARM200F, fija un nuevo patrón para rápidamente reanudar la operación después de contellear, un procedimiento rutinario conducto con cualquier TEM que ofrece una fuente Fría de FEG.
Consideraba De Largo un equilibrio para la brillantez más de alta resolución, más alta, y una extensión más pequeña de la energía de un FEG frío TEM, estabilidad de la emisión degrada debido a los gases residuales en el área de la punta. Con el frío convencional FEG TEMs, el operador debe contellear cada pocas horas para limpiar la punta, rompiendo la operación.
El JEOL ARM200F FEG Frío TEM tiene la capacidad única “De Contellear y De Ir,” permitiendo que el microscopio reanude la operación dentro de segundos después de contellear, en vez de media hora típico o más que la mayoría de los utilizadores de FEG Frío TEMs preveen. Un sistema desarrollado recientemente del vacío evacua efectivo el área alrededor de la fuente Fría de FEG a la orden de PA 1 x 10-9, dando por resultado estabilidad a largo plazo excepcional de la emisión.
El ARM200F con la Pistola Fría de la Emisión de Campo representa una partida radical de la tecnología óptica del electrón, logrando la resolución sin precedente de la proyección de imagen de 78 picometers con una resolución de energía de mejor que 0.3eV. La brillantez más alta y la extensión más estrecha de la energía activadas por el FEG Frío son optimizadas por la emisión ultra estable, grandemente aumentando proyección de imagen del átomo-átomo y análisis químico.