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Posted in | Microscopy

La Définition Atomique TEM de JEOl Fixe des Normes Neuves

Published on May 9, 2011 at 7:56 PM

Le Microscope Électronique atomique de Boîte De Vitesses de la définition de JEOL (TEM), le JEM-ARM200F, fixe une norme neuve pour reprendre rapidement le fonctionnement après avoir flashé, une procédure courante conduite avec n'importe quel TEM comportant une source du Rhume FEG.

A longtemps considéré un compromis pour le luminosité plus de haute résolution et plus intense, et un plus petit écart d'énergie d'un rhume FEG TEM, stabilité d'émission dégrade en raison des gaz résiduels dans la zone de l'extrémité. Avec le rhume conventionnel FEG TEMs, la téléphoniste doit flasher toutes les quelques heures pour nettoyer l'extrémité, perturbant le fonctionnement.

Le Rhume FEG TEM de JEOL ARM200F a la seule capacité « De Flasher et Aller, » permettant au microscope de reprendre le fonctionnement dans des secondes après avoir flashé, au lieu de la demie heure typique ou plus que la plupart des utilisateurs du Rhume FEG TEMs s'attendent. Un système developpé récemment d'aspirateur évacue effectivement la zone autour de la source du Rhume FEG à la commande de la PA 1 x 10-9, ayant pour résultat la stabilité à long terme en suspens d'émission.

L'ARM200F avec le Canon Froid d'Émission De Champ Représente une déviation radicale à la technologie optique d'électron, réalisant la définition sans précédent de représentation de 78 picometers avec une définition d'énergie de meilleur que 0.3eV. Le luminosité plus intense et l'écart plus étroit d'énergie activés par le Rhume FEG sont optimisés par l'émission ultra stable, grand augmentant la représentation d'atome-atome et l'analyse chimique.

Last Update: 12. January 2012 17:32

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