JEOL's atomico Transmission Electron Microscope risoluzione (TEM), il JEM-ARM200F, stabilisce un nuovo standard per il rapido di riprendere le operazioni dopo aver lampeggiato, una procedura di routine condotta con ogni TEM con una sorgente fredda FEG.
A lungo considerata un compromesso per la risoluzione maggiore, maggiore luminosità ed energia minore diffusione di un TEM freddo FEG, la stabilità emissione degrada a causa di gas residui nella zona della punta. Con i tradizionali TEM FEG freddo, l'operatore deve lampeggiare ogni poche ore per pulire la punta, interrompendo il funzionamento.
Il JEOL ARM200F freddo FEG TEM ha la capacità unica di "Flash & Go", permettendo il microscopio per riprendere il funzionamento pochi secondi dopo aver lampeggiato, invece della mezz'ora o più tipici che la maggior parte degli utenti di TEM FEG freddo si aspettano. Un sistema di aspirazione di nuova concezione evacua in modo efficace l'area attorno alla fonte FEG Fredda l'ordine di 1 Pa x 10-9, con conseguente emissione di eccezionale stabilità a lungo termine.
Il ARM200F con la pistola a freddo Field Emission rappresenta una svolta radicale rispetto tecnologia elettronica ottica, ottenendo una risoluzione senza precedenti di 78 picometers immagini con una risoluzione migliore di 0,3. La luminosità più alta e più stretta di energia diffusa abilitato dal FEG a freddo sono ottimizzati dalle emissioni ultra stabile, migliorando notevolmente atomo per atomo di imaging e analisi chimiche.