Posted in | Microscopy

nanoGUNE Installer FEI Electron Microscope

Published on May 11, 2011 at 11:46 PM

FEI Selskap (NASDAQ: FEIC), en ledende vitenskapelig instrumentering selskap, og de ​​baskiske Nanovitenskap Cooperative Research Center, nanoGUNE Consolider, er glade for å kunngjøre installasjon av tre nye avanserte elektronmikroskop systemer fra FEI. nanoGUNE har nå verdens mest avanserte kommersielt tilgjengelig mikroskop, Titan scanning overføring elektronmikroskop (S / TEM), en Quanta FEG (felt utslipp pistol), og en Helios NanoLab DualBeam nanofabrication verktøy i sitt nye anlegg.

Innvielsen av denne nye laboratoriet, som vil bli fokusert på nanovitenskap og nanoteknologi er en viktig milepæl i utviklingen av forskningen strategi nanoGUNE og en storslagen åpning arrangementet vil bli holdt i San Sebastian i juni 2011.

"Dette er veldig spennende for nanoGUNE, og for Baskerland, fordi installasjonen av Titan S / TEM vil plassere nanoGUNE i forkant av elektronmikroskopi anlegg rundt om i verden," sier professor Jose M. Pitarke, direktør for nanoGUNE.

Tony Edwards, FEI er senior vice president, sier, "Vi er glade for å ha inngått en avtale som etablerer nanoGUNE som en aktiv FEI referanse for installasjon av nye FEI instrumenter. NanoGUNE får tilgang til de nyeste teknologiene innen elektronmikroskopi og fokusert ion stråle nanofabrication, og vi ser frem til å jobbe med dem på forskningsprosjekter som vil bli utført av team av forskere fra både FEI og nanoGUNE. "

Avtalen omfatter utvikling av flere forskningsprosjekter som vil bli utført av team av forskere fra både FEI og nanoGUNE. De vil delta i deres kompletterende kompetanse med sikte på å utforske nye metoder og anvendelser av elektron-mikroskopi og fokusert-ion-beam teknikker.

The Titan aberrasjon-korrigert TEM vil bli brukt for atom-oppløsning og analyse av nanostrukturer og nanodevices. Den Quanta FEG tilbyr en ESEM teknikk som skal brukes for å studere sanntid redoks kjemi med nano-objekter og bildebehandling væsker i henhold microfluidic forhold. Den Helios NanoLab DualBeam er en fokusert ion stråle / scanning elektronmikroskop (FIB / SEM) som skal brukes til å utforske nye prosesser for fabrikasjon av funksjonelle nanostrukturer og nanodevices. Innholdet i felles prosjekter i tett relasjon med dagens forskning interesser nanoGUNE forskningsmiljøer, og dermed etablere et samarbeidsorgan rammeverk til fordel for begge parter.

Last Update: 3. October 2011 15:55

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit