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Große Abkommen auf Metrologie-Instrumenten vom LOT Erker

Published on June 9, 2011 at 1:46 AM

LOT stellen einige der Spitzennamen in der Metrologieinstrumentierung wie KLA Tencor und Park-Anlagen dar. Wir bieten aktuell die folgenden Förderungen während eines begrenzten Zeitraums an.

Park XE-100 - Award-winningc$forschung-grad FLUGHANDBUCH mit Schritt-und-Scan Automatisierung

LOT sind jetzt in der Lage, eine beschränkte Anzahl von nagelneuem, Fabrik anzubieten entbundenes XE-100 AFMs bei 20% weg vom Listenpreis (umfaßt 12-monatiges Garantie-, Lieferungs-, Installations- und Benutzertraining). Diese sind aktuelle Bedingungsbaumuster. Um eine typische Bedingung anzusehen klicken Sie bitte hier

Das XE-100 ist FLUGHANDBUCH das Flaggschiff des Parks mit verringerter Drift und der Schritt-und-Scan Automatisierung, die die entscheidende AFM-/SPMleistung in Berührungsfreier nanoscale Metrologie liefert. Es ist eine mittel-veranschlagte Anlage für Materialwissenschaft, Polymere, Elektrochemie und andere Anwendungen im nanoscience und in der Technik. Es kann eine große Auswahl der optischen Kupplung mit seinem offenen Seitenzugriff annehmen.

Stift-Oberflächen-Auswerteprogramm KLA-Tencor D-100

Wir bieten 20% weg vom Listenpreis an (einschließlich 12-monatiges Garantie-, Lieferungs-, Installations- und Benutzertraining während eines begrenzten Zeitraums.

Das Straßenoberflächenmessgerät AlphaStep D-100 schnell und misst quantitativ die 2D Topographie von Oberflächen. Die Straßenoberflächenmessgerät-Maßanlagen AlphaStep D-100 umfaßt eine Reichweite 800 Mikrons (wahlweise 1,2 mm) Z, eine UnterÅngström Auflösung, eine Schritthöhenwiederholbarkeit mit 6 Ångström, manuelle x-yeine thetaprobe, die Stufe in Position bringen, und viele anderen Merkmale. Um eine typische Bedingung anzusehen klicken Sie bitte hier

Optisches OberflächenAuswerteprogramm KLA-Tencor MicroXAM-100

Wir bieten 25% weg vom Listenpreis an (einschließlich 12-monatiges Garantie-, Lieferungs-, Installations- und Benutzertraining während eines begrenzten Zeitraums.

Das Oberflächenauswerteprogramm 3D MicroXAM -100 kann Gesichtsfelder von 100 X 100 Mikrons zu 2,0 X 2,0 mm messen (abhängig vom Objektiv verwendet). Das optische Interferometer MicroXAM 100 schnell und misst genau die Topographie 3D von Oberflächen auf dem nmniveau mit einer Zscan Reichweite 250 Mikrons (oder bis 10 mm mit dem Z-Nähen). Mit den nähenden Fähigkeiten des neuen Bildes 3D können Geisterbilder zusammen genäht werden, um erweiterte Gesichtsfelder zu produzieren. Um eine typische Bedingung anzusehen klicken Sie bitte hier

Bitte Für weitere Informationen in Kontakt bringen Heide-Junge auf 01372 378822, E-Mail heath@lotoriel.co.uk

Last Update: 12. January 2012 16:59

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