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Le Grande Trattano sugli Strumenti della Metrologia dal LOTTO il ORIEL

Published on June 9, 2011 at 1:46 AM

Il LOTTO rappresenta alcuni dei nomi superiori nella strumentazione della Metrologia quali KLA Tencor ed i Sistemi della Sosta. Corrente stiamo offrendo le seguenti promozioni per un periodo limitato.

Sosta XE-100 - Ricerca-Grado Premiato AFM con Automazione di Punto-e-Scansione

Il LOTTO ora può offrire un numero limitato di nuovissimo, XE-100 AFMs consegnato fabbrica a 20% fuori dal prezzo di listino (comprende una garanzia da 12 mesi, la consegna, l'impianto e la formazione degli utenti). Questi sono modelli correnti di specifica. Per osservare una specifica tipica clicchi prego qui

Il XE-100 è la nave ammiraglia AFM della Sosta con la velocità di deriva diminuita e l'Automazione di Punto-e-Scansione che fornisce l'ultima prestazione di AFM/SPM in metrologia Senza contatto del nanoscale. È un sistema mezzo fissato il prezzo di per scienza dei materiali, i polimeri, l'elettrochimica ed altre applicazioni in nanoscience e nell'assistenza tecnica. Può adottare una vasta gamma di accoppiamento ottico con il suo accesso laterale aperto.

Profilatore della Superficie dello Stilo di KLA-Tencor D-100

Stiamo offrendo 20% fuori dal prezzo di listino (garanzia compresa da 12 mesi, consegna, impianto e formazione degli utenti per un periodo limitato.

Il profilometro di AlphaStep D-100 rapido e misura quantitativamente la 2D topografia delle superfici. I sistemi di misura del profilometro di AlphaStep D-100 comprende un intervallo da 800 micron (1,2 millimetri facoltativo) Z, una risoluzione dell'sotto-angstrom, una ripetibilità di altezza di punto di 6 angstrom, un campione di x-y manuale di teta che posizionano la fase e molte altre funzionalità. Per osservare una specifica tipica clicchi prego qui

Profilatore Di Superficie Ottico di KLA-Tencor MicroXAM-100

Stiamo offrendo 25% fuori dal prezzo di listino (garanzia compresa da 12 mesi, consegna, impianto e formazione degli utenti per un periodo limitato.

Il profilatore di superficie 3D di MicroXAM -100 può misurare i campi di visibilità da 100 X 100 micron dipendente a 2,0 X 2,0 millimetri (dall'obiettivo utilizzato). L'interferometro ottico di MicroXAM 100 rapidamente e misura esattamente la topografia 3D delle superfici al livello di nanometro con un intervallo di z-scansione di 250 micron (o di fino a 10 millimetri con la Z-Cucitura). Con le capacità di cucitura di immagine nuova 3D, le immagini multiple possono essere cucite insieme per produrre i campi di visibilità estesi. Per osservare una specifica tipica clicchi prego qui

Per ulteriori informazioni vogliate contattano i Giovani su 01372 378822, il email heath@lotoriel.co.uk della Brughiera

Last Update: 12. January 2012 17:01

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