Nanoworld startet Website für High Speed ​​Scanning AFM

Published on June 23, 2011 at 9:45 PM

Anfang dieses Monats angekündigt NanoWorld AG, es habe eine Website vollständig auf High Speed ​​Scanning Atomic Force Microscopy (HS-AFM) bei dedizierten gestartet www.highspeedscanning.com . NanoWorld widmet dieser Website in die Gemeinschaft der High-Speed-Scanning AFM Benutzer und konzentriert sich auf die Sonde Aspekt der High-Speed-Scanning.

Keine kommerziellen High Speed ​​Rastersondenmikroskopen (SPM) und Atomic Force Mikroskope (AFM) zur Verfügung standen und es gab kaum dedizierte High Speed ​​Scanning-Sonden zur Verfügung: Für eine lange Zeit Schnelles Scannen in Rastersondenmikroskopie wurde durch zwei Faktoren begrenzt.

Auf der Instrumentierung Seite die ersten Systeme wurden kürzlich kommerzialisiert.

Um die besten Ergebnisse erzielen mit diesen High-Speed-Scanning-Mikroskope speziell High-Speed-Scanning-Sonden müssen verwendet werden, unterscheiden sich von Standard-AFM-Sonden werden. Die NanoWorld R & D Team entwickelt seit AFM-Sonden zum schnellen Scannen seit vielen Jahren.

Die ersten kommerziell verfügbaren High-Speed-Scanning-Sonde, die Pfeil-UHF, wurde 2004 eingeführt.

In der Zwischenzeit eine zweite Generation von Sonden gewidmet High Speed ​​AFM hat in Zusammenarbeit mit Nanotools GmbH entwickelt worden. Die Prototypen dieser Entwicklungen befinden sich derzeit in einem umfangreichen Beta-Testphase und werden voraussichtlich bald offiziell vorgestellt werden.

Die neue Website www.highspeedscanning.com präsentiert Informationen über Raster-Sonden-Lösungen für High Speed ​​Scanning von bereits kommerzialisierten Sonden wie der Pfeil-UHF neu entwickelte Ultra-Short Cantilevers (USC). Besucher der Website finden Sie auch eine wachsende Zahl von High-Speed-AFM-Bilder und Videos großzügig von Beta-Tester und Forscher weltweit zur Verfügung gestellt.

Last Update: 31. October 2011 02:23

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