WITec это правда микроскопии поверхности была выбрана в качестве победителя престижного 2011 R & D 100 Award. Это отличием инновации WITec как одна из 100 наиболее технологически значимых событий этого года.
Правда микроскопии поверхности позволяет конфокальной рамановской визуализации руководствоваться топографии поверхности. Топографические координаты, измеренные с интегрированным профилометра используются для совершенно следовать поверхности образца в конфокальной комбинационном режиме визуализации. В результате изображение выявления оптических или химических свойств на поверхности образца, даже если эта поверхность очень грубой или сильно наклонены. Ранее в марте 2011 года, правда микроскопии поверхности получили PITTCON 2011 Редакторы Золотая награда.
Приборная панель наградами Правда Режим микроскопии поверхности.
"С Правда микроскопии поверхности мы сделали еще один технологический скачок, который позволит нашим клиентам изучить новые направления в своей научной области", говорит д-р Олаф Hollricher, Управляющий директор по исследованиям и развитию. "Это вторая награда подтверждает наше дальнейшее требование всегда обеспечивает передовые инновации, и это большое признание успеха нашей стратегии"
Международно признанных награда была учреждена в 1963 году и отобраны независимым жюри, а также редакторы R & D Magazine и вручается ежегодно выдающимся инноваций в области промышленных исследований и разработок. В 2008 году получил WITec R & D 100 Award для автоматизированного конфокальной Раман и атомно-силовой микроскоп alpha500 платформы. Судьи выбирают прорыв продуктов или процессов, которые могут способствовать изменению жизни людей `ы или пересмотра существующих технологий. Победители будут признаны на R & D 100 наград Банкетный 13 октября 2011 года в Орландо, штат Флорида.
О WITec
WITec является производителем высокопроизводительных оптических и сканирующие системы зондовой микроскопии. Модульной линейки продуктов позволяет сочетание различных методов микроскопии, таких как Раман, СБОМ или AFM в единый документ для гибкого анализа оптических, химических и структурных свойств образца. Инструменты распространяются по всему миру и используются в основном в области материаловедения, наук о жизни и нанотехнологий. WITec основана в Ульме, Германия с региональными штаб-квартирой в Maryville, Теннесси, США и Сингапуре. Для получения дополнительной информации, пожалуйста, посетите http://www.witec.de.