WITec 的真的表面显微学被选择了作为有名望的 2011 R&D 100 证书的获奖者。 它最技术上尊敬 WITec 创新作为年的 100 重大的发展之一。
真的表面显微学允许表面地势引导的共焦的喇曼想象。 从一台集成轮廓测定器计量的地形学坐标在共焦的喇曼想象模式下用于完全按照范例表面。 这个结果是显示光学或化工属性的图象在这个范例的表面，即使此表面是非常粗砺或大量地倾斜。 以前在 2011年 3月，真的表面显微学获得了 PITTCON 2011 编辑金证书。
以得奖的真的表面显微学模式为特色的仪器。
“与真的表面显微学我们做将使我们的客户测试在他们的科学领域的新的大道”说奥拉夫 Hollricher，总经理研究 & 发展博士的另一个技术飞跃。 “更加进一步此第二个的证书验证总是提供最尖端的创新我们的索赔并且是我们的产品方法的成功的极大的识别”
这个国际公认的证书在 1963年被设立了和由独立陪审团选择以及 R&D 杂志编辑和每年存在对在行业研究与开发的未清创新。 2008年被接受自动化的共焦的喇曼和基本强制显微镜平台的 alpha500 R&D 100 证书的 WITec。 法官选择可能造成更改的人 ` s 寿命或重新解释当前技术的突破产品或进程。 赢利地区将被认可在 2011年 10月 13日的 R&D 100 颁奖宴会，在奥兰多， FL。
关于 WITec
WITec 是光学高性能和扫描探测显微学系统的制造商。 一条模件产品线允许不同的显微学技术的组合例如喇曼、 SNOM 或者 AFM 在一台唯一仪器的对范例的光学，化工和结构上的属性的灵活的分析。 主要在领域分配得仪器全世界和使用的材料学、生命科学和纳米技术。 WITec 在 Ulm、德国有地区总部的在 Maryville， TN、美国和新加坡根据。 对于更多信息，请参观 http://www.witec.de。