WITec 的真的表面顯微學被選擇了作為有名望的 2011 R&D 100 證書的獲獎者。 它最技術上尊敬 WITec 創新作為年的 100 重大的發展之一。
真的表面顯微學允許表面地勢引導的共焦的喇曼想像。 從一臺集成輪廓測定器計量的地形學坐標在共焦的喇曼想像模式下用於完全按照範例表面。 這個結果是顯示光學或化工屬性的圖像在這個範例的表面，即使此表面是非常粗礪或大量地傾斜。 以前在 2011年 3月，真的表面顯微學獲得了 PITTCON 2011 編輯金證書。
以得獎的真的表面顯微學模式為特色的儀器。
「與真的表面顯微學我們做將使我們的客戶測試在他們的科學領域的新的大道」說奧拉夫 Hollricher，總經理研究 & 發展博士的另一個技術飛躍。 「更加進一步此第二個的證書驗證總是提供最尖端的創新我們的索賠并且是我們的產品方法的成功的極大的識別」
這個國際公認的證書在 1963年被設立了和由獨立陪審團選擇以及 R&D 雜誌編輯和每年存在對在行業研究與開發的未清創新。 2008年被接受自動化的共焦的喇曼和基本強制顯微鏡平臺的 alpha500 R&D 100 證書的 WITec。 法官選擇可能造成更改的人 ` s 壽命或重新解釋當前技術的突破產品或進程。 贏利地區將被認可在 2011年 10月 13日的 R&D 100 頒獎宴會，在奧蘭多， FL。
關於 WITec
WITec 是光學高性能和掃描探測顯微學系統的製造商。 一條模件產品線允許不同的顯微學技術的組合例如喇曼、 SNOM 或者 AFM 在一臺唯一儀器的對範例的光學，化工和結構上的屬性的靈活的分析。 主要在領域分配得儀器全世界和使用的材料學、生命科學和納米技術。 WITec 在 Ulm、德國有地區總部的在 Maryville， TN、美國和新加坡根據。 對於更多信息，请請參觀 http://www.witec.de。