20/20 एक्स्ट्रा लार्ज फिल्म मोटाई मापन उपकरण: craic टेक्नोलॉजीज अर्धचालक उद्योग के लिए एक नए समाधान विकसित की है. 20/20 एक्स्ट्रा लार्ज microspectrophotometer गैर विध्वंस बहुत बड़े नमूनों की सूक्ष्म क्षेत्रों का विश्लेषण करने के लिए डिज़ाइन किया गया है. इस प्रणाली दोनों पारेषण और reflectance में पतली फिल्मों की मोटाई मापने की क्षमता प्रदान करता है.
यह भी पराबैंगनी और अर्धचालक और नमूने के अन्य प्रकार के पास इन्फ्रारेड माइक्रोस्कोपी के साथ सूक्ष्म नमूनों की रमन स्पेक्ट्रा, उपाय करने की क्षमता प्रदान करता है. कारण अपनी लचीली डिजाइन है, जो यह सबसे बड़ा नमूनों का विश्लेषण करने की क्षमता देता है, आवेदन कई हैं और बड़े उपकरणों की पतली फिल्म मोटाई मानचित्रण, का पता लगाने और पहचान contaminants के सिलिकॉन में तनाव को मापने और बहुत अधिक शामिल हैं. Spectrally विश्लेषण और छवि सूक्ष्म नमूने या बड़े उपकरणों पर सूक्ष्म क्षेत्रों की क्षमता के साथ, 20/20 एक्स्ट्रा लार्ज microspectrophotometer सुविधाओं anufacturing के लिए अत्याधुनिक सूक्ष्म विश्लेषण उपकरण है.

"Craic टेक्नोलॉजीज अपनी स्थापना के बाद से यूवी दृश्य-NIR microanalysis के क्षेत्र में एक प्रर्वतक किया गया है हम अभिनव उपकरण, सॉफ्टवेयर, अनुसंधान और शिक्षण के साथ microscale विश्लेषण के क्षेत्र अग्रिम करने के लिए मदद की है. 20/20 एक्स्ट्रा लार्ज microspectrophotometer बाहर पैदा हुआ था हमारे औद्योगिक ग्राहकों से मांग करने के लिए छोटी सी जगह फिल्म मोटाई माप, रमन microspectroscopy और गहरे यूवी से पास "आईआर वर्णक्रमीय इमेजिंग के द्वारा बहुत बड़े उपकरणों के सूक्ष्म सुविधाओं करने में सक्षम हो के डॉ. पॉल मार्टिन craic टेक्नोलॉजीज के अध्यक्ष राज्यों. "जैसे, हम अपने ग्राहकों को बात सुनी है और एक्स्ट्रा लार्ज 20/20, एक डिजाइन में अनुभव, निर्माण और स्पेक्ट्रोस्कोपी और छवि विश्लेषण के लिए उपकरण के इस प्रकार के उपयोग के वर्षों के द्वारा समर्थित सिस्टम बनाया."
20/20 एक्स्ट्रा लार्ज microspectrophotometer एक उन्नत फिल्म मोटाई माप की इकाई, रमन स्पेक्ट्रोमीटर, एक परिष्कृत श्रृंखला यूवी दृश्य-NIR माइक्रोस्कोप, उच्च संकल्प डिजिटल इमेजिंग और शक्तिशाली सॉफ्टवेयर करने के लिए आसान उपयोग प्रदान करता है. यह लचीला साधन बड़े फ्रेम है कि बड़े पैमाने पर नमूने समायोजित कर सकते हैं संलग्न करने के लिए डिज़ाइन किया गया है. यह absorbance, reflectance, या यहाँ तक कि luminescence स्पेक्ट्रोस्कोपी द्वारा बहुत बड़े नमूनों की सूक्ष्म सुविधाओं से डेटा प्राप्त करने में सक्षम है. उच्च संकल्प डिजिटल इमेजिंग, सहित करके उपयोगकर्ता को भी एक पराबैंगनी या अवरक्त माइक्रोस्कोप के रूप में साधन का उपयोग करने में सक्षम है. इसके अतिरिक्त, craic अपोलो रमन स्पेक्ट्रोस्कोपी मॉड्यूल है तो उपयोगकर्ता को भी छोटी सी जगह रमन स्पेक्ट्रा प्राप्त कर सकते हैं जोड़ा जा सकता है. Microanalysis के लिए परिष्कार के एक नए स्तर पर टच स्क्रीन नियंत्रण, अत्याधुनिक सॉफ्टवेयर, calibrated चर apertures और अन्य नवाचारों सभी बिंदु. के साथ उच्च संवेदनशीलता, टिकाऊ डिजाइन, आसानी से उपयोग, एकाधिक इमेजिंग और स्पेक्ट्रोस्कोपी तकनीक, स्वचालन और craic टेक्नोलॉजीज का समर्थन, एक्स्ट्रा लार्ज 20/20 सिर्फ एक गुणवत्ता नियंत्रण माप उपकरण से अधिक है ... यह चुनौतियों अपनी विश्लेषणात्मक समाधान है .
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