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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

JEOL Entwickeln EDSfor-Gebrauch der Neuen Generation mit Rastertransmissionselektronenmikroskopen

Published on July 7, 2011 at 11:02 PM

JEOL hat eine neue Generation des Energie-Dispersiven Spektrometers für (EDS) ultraschnelle, ultrasensitive Sammlung Röntgenstrahlen durch Analyse mit seinen Rastertransmissionselektronenmikroskopen (S/TEM) entwickelt. Centurio von JEOL ist ein neuer Silikon-Antrieb-Detektor (SDD) EDS, der Röntgenstrahlen von den Proben in einem beispiellosen großen Raumwinkel von bis 0,98 Sterarden von einem Befundbereich von 100mm2 montiert. Je größer der Raumwinkel des Maßes, desto mehr Daten, die, der EDS montiert, um ausführliche analytische Karten aus den Elementen in der Probe zu konstruieren.

Mit der Fähigkeit, Röntgenstrahlen mit sehr hohen Zählraten effizient zu montieren, beschleunigt Centurio das elementare Abbilden und verbessert Elementbefundempfindlichkeit ohne Verlust der Energieauflösung. Große Pixelzahl EDS-Karten können mit Kinetik gemacht werden zehnmal schneller als mit vorhergehenden EDS-Auslegungen, mit ausgezeichnetem störsignalisierendem Verhältnis. Kombiniert mit dem großen Fühlerstrom in den kleinen Fühlergrößen, die mit Abweichung-korrigiertem STAMM erreichbar sind, ist schnelle, effiziente Atomauflösung EDS-Analyse möglich.

Die automatisch einziehbare Seiteneintragauslegung darf schnell umsetzen, um Bestrahlung von den umgekehrten Elektronen zu vermeiden.

Centurio erweitert exponential die elementare abbildende Fähigkeit für das JEOL 200kV und höheres TEMs, einschließlich die JEM-ARM200F Atomauflösung TEM mit wahlweise kaltem Bereich-Emissions-Gewehr, und das neue automatisierte JEM-2800, hohen Durchsatz, Nano-bereich Analyse TEM.

Last Update: 12. January 2012 11:24

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