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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

JEOL Développent l'Utilisation d'EDSfor de Rétablissement Neuf avec des Microscopes Électroniques de Boîte De Vitesses de Lecture

Published on July 7, 2011 at 11:02 PM

JEOL a développé un rétablissement neuf de Spectromètre Dispersif d'Énergie (EDS) pour la collection ultra-rapide et ultra-sensible de Rayons X par l'analyse avec ses Microscopes Électroniques de Boîte De Vitesses de Lecture (S/TEM). Centurio de JEOL est un Détecteur nouveau EDS de Chassoir (SDD) de Silicium qui rassemble des Rayons X des échantillons à une grande cornière solide sans précédent de jusqu'à 0,98 stéradians d'une zone de dépistage de 100mm2. Plus la cornière solide de la mesure est grande, plus les données que l'EDS se rassemble pour construire les plans analytiques détaillés avec des éléments dans l'échantillon.

Avec la capacité de rassembler efficacement des rayons X aux tarifs de quantité très grande, Centurio accélère le mappage élémentaire et améliore la sensibilité de dépistage d'élément sans perte de définition d'énergie. De Grands plans d'EDS de numéro de pixel peuvent être effectués aux tarifs dix fois plus rapide qu'avec des designs précédents d'EDS, avec l'excellent taux signal/bruit. Combiné avec les grands courants de sonde dans de petites tailles de sonde possibles de CHEMINÉE aberration-rectifiée, l'analyse atomique rapide et efficace d'EDS de définition est possible.

Le design latéral automatiquement escamotable d'entrée laisse repositionner rapidement pour éviter l'irradiation des électrons rétrodiffusés.

Centurio augmente exponentiellement la capacité élémentaire de mappage pour le JEOL 200kV et TEMs plus élevé, y compris la définition atomique TEM de JEM-ARM200F avec le Canon froid optionnel d'Émission De Champ, Et le JEM-2800 automatisé, débit élevé neuf, l'analyse TEM de nano-zone.

Last Update: 12. January 2012 11:22

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