Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D

Første Kapacitans kalibreringsstandard for AFM brugere

Published on July 12, 2011 at 8:36 PM

Agilent Technologies Inc. (NYSE: A) introducerede i dag den første kommercielt tilgængelige kapacitans kalibreringsstandard for et atomic force mikroskop (AFM). Den videnskabelige løsninger udbyder udstedt kalibrering specifikationer for kapacitans målinger, der tillader kvantitativ vurdering af materiale og egenskaber for enheden via sin prisbelønnede Scanning mikroovn Mikroskopi tilstand.

Forskere fra Agilent samarbejdet med National Institute of Standards and Technology (NIST Boulder Laboratories) til at etablere den nye standard.

Agilents SMM Mode er den eneste AFM-baserede elektrisk karakterisering teknik, der giver forskerne rigtigt kalibreret kapacitans.

"SMM Mode er den eneste AFM-baserede elektrisk karakterisering teknik, der giver forskerne rigtigt kalibreret kapacitans," sagde Jeff Jones, driftschef for Agilents nanoinstrumentation facilitet i Chandler, Arizona "Denne kvantitative oplysninger er afgørende for bedre at forstå den reaktion og opførsel af nanoskala systemer, især når enheden ejendomme skal vurderes på deres planlagte operation frekvenser. "

SMM Mode er en unik metode, der bruger en Agilent mikrobølgeovn vektor netværk analysator i samråd med en Agilent 5420 eller 5600LS AFM til at måle egenskaber i forbindelse med små variationer i det elektromagnetiske vekselvirkninger af en stikprøve komponenter med hændelsen mikrobølgesignalet, statisk eller dynamisk. Den Agilent-eksklusive teknik kan bruges til måling på halvledere (ingen oxidlag påkrævet), metaller, dielektriske materialer, ferro materialer, isolatorer og biologiske materialer. Data fra repræsentative stikprøver viser, at SMM Mode er i stand til at kortlægge materialeegenskaber ved en opløsning i sidste ende begrænset af skarpheden af ​​AFM probe.

Agilents SMM tilstand blev opkaldt en R & D 100 Award vinderen af ​​et uafhængigt dommerpanel og redaktørerne af R & D Magazine. Det var også opkaldt en 2009 Prism Award vinderen af ​​dommere fra SPIE og det rådgivende bestyrelse Laurin Publishings Photonics Spectra magasin.

Last Update: 6. October 2011 15:37

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit