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Capacidad primer estándar de calibración para los usuarios de AFM

Published on July 12, 2011 at 8:36 PM

Agilent Technologies Inc. (NYSE: A) ha presentado hoy el estándar de capacidad de calibración primero disponible en el mercado de un microscopio de fuerza atómica (AFM). El proveedor de soluciones científicas emitidas especificaciones de calibración para mediciones de capacitancia que permiten la evaluación cuantitativa de las propiedades del material y el dispositivo a través de su galardonado Microondas Modo de digitalización de Microscopía.

Investigadores de Agilent ha colaborado con el Instituto Nacional de Estándares y Tecnología (NIST Laboratorios Boulder) para establecer la nueva norma.

Modo de SMM de Agilent es el único AFM basado en la técnica de caracterización eléctrica que da a los investigadores verdadera capacidad calibrada.

"Modo de SMM es la única AFM basado en la técnica de caracterización eléctrica que proporciona verdadera capacidad investigadores calibrados", dijo Jeff Jones, director de operaciones para la instalación de nanoinstrumentation de Agilent en Chandler, Arizona "Esta información cuantitativa es fundamental para comprender mejor la respuesta y el comportamiento de nanoescala sistemas, sobre todo cuando las propiedades del dispositivo tienen que ser evaluados en sus frecuencias de operación que se pretende. "

Modo de SMM es un método único que utiliza un vector de microondas Agilent analizador de red en concierto con una Agilent 5420 o AFM 5600LS para medir las propiedades asociadas con pequeñas variaciones en las interacciones electromagnéticas de los componentes de una muestra con la señal de microondas incidente, estática o dinámica. La técnica de Agilent exclusiva puede ser utilizado para la medición de los semiconductores (sin capa de óxido es necesario), metales, materiales dieléctricos, ferroeléctricos, aislantes y materiales biológicos. Los datos de muestras representativas de demostrar que el modo SMM es capaz de mapear las propiedades del material a una resolución en última instancia, limitada por la nitidez de la sonda de AFM.

Modo de Agilent SMM fue nombrado uno de I + D 100 ganador del premio por un panel de jueces independientes y los editores de R & D Magazine. También fue nombrada como una ganadora Prisma 2009 Premio por los jueces de la SPIE y la junta asesora de la revista de publicación Laurin Spectra de Fotónica.

Last Update: 6. October 2011 15:36

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