Eerste Capaciteit Kalibratie Standaard voor AFM gebruikers

Published on July 12, 2011 at 8:36 PM

Agilent Technologies Inc (NYSE: A) introduceert de eerste commercieel beschikbare capaciteit kalibratie-standaard voor een atomic force microscoop (AFM). De wetenschappelijke oplossingen uitgegeven kalibratie specificaties voor capaciteitsmetingen dat kwantitatieve beoordeling van materiaal en het apparaat via de eigenschappen van de bekroonde Scanning Microscopie Microwave modus mogelijk te maken.

Onderzoekers van Agilent samen met het National Institute of Standards and Technology (NIST Boulder Laboratories) naar de nieuwe norm vast te stellen.

SMM Mode Agilent is de enige AFM op basis van elektrische karakterisering techniek die geeft onderzoekers zo gekalibreerd capaciteit.

"SMM-modus is het enige AFM op basis van elektrische karakterisering techniek die onderzoekers ware gekalibreerde weerstand biedt," aldus Jeff Jones, operations manager voor nanoinstrumentation Agilent faciliteit in Chandler, Arizona "Deze kwantitatieve informatie is van cruciaal belang om beter inzicht in de reactie en het gedrag van nanoschaal systemen, met name als het apparaat eigenschappen moeten worden beoordeeld op hun beoogde werking frequenties. "

SMM Mode is een unieke methode die een Agilent magnetron vector netwerk analyzer gebruikt in overleg met een Agilent 5420 of 5600LS AFM om te meten eigenschappen geassocieerd met kleine variaties in het elektromagnetische interacties van componenten een monster met het incident magnetron-signaal, statisch of dynamisch. De Agilent-exclusieve techniek kan worden gebruikt voor de meting op halfgeleiders (geen oxidelaag nodig), metalen, diëlektrische materialen, ferro-elektrische materialen, isolatoren en biologische materialen. Gegevens van representatieve monsters aan te tonen dat SMM-modus is in staat om kaartmateriaal eigenschappen bij een resolutie uiteindelijk beperkt door de scherpte van de AFM sonde.

Agilent SMM Mode heette een R & D 100 Award winnaar door een onafhankelijke jury en de redactie van O & O-Magazine. Het was ook de naam een ​​2009 Prism Award winnaar door rechters uit SPIE en de raad van advies van Laurin Publishing Photonics Spectra magazine.

Last Update: 6. October 2011 15:37

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit