原子力显微镜用户第一电容校准标准

Published on July 12, 2011 at 8:36 PM

安捷伦科技公司 (NYSE:A)今天推出了原子力显微镜(AFM)的第一个市售电容的校准标准。科学的解决方案供应商发出校准电容测量,允许通过其屡获殊荣的扫描微波显微镜模式的材料和器件性能的定量评估指标。

从安捷伦的研究人员合作,以建立新的标准与国家标准与技术研究院(NIST的博尔德实验室)。

安捷伦的SMM的模式是唯一的原子力显微镜为基础的电气特性的技术,使研究人员真正的校准电容。

,安捷伦在钱德勒nanoinstrumentation设施运营经理“,”杰夫说琼斯SMM的模式是唯一的原子力显微镜为基础的电气特性技术,研究人员给予真正的校准电容,亚利桑那州“这一定量信息是至关重要的,以便更好地了解响应和纳米行为系统,尤其是当设备的属性,必须在其预定的工作频率进行评估。“

SMM的模式是一个独特的的方法,使用安捷伦微波矢量网络分析仪与Agilent 5420或5600LS原子力显微镜,在音乐会来衡量样本的元件与事件的微波信号,静态或动态的电磁相互作用小的变化相关联的属性。安捷伦独有的技术可用于测量半导体上(无氧化层),金属,电介质材料,铁电材料,绝缘材料和生物材料。从有代表性的样品数据表明,SMM的模式是能够映射在最终AFM探针的清晰度有限决议的材料特性。

安捷伦的SMM模式被命名为一个R&D 100奖得主由一个独立评审团和R&D杂志的编辑。它也被评为2009年棱镜奖得主由SPIE法官和劳林出版的光电子光谱“杂志的顾问委员会。

Last Update: 6. October 2011 15:37

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