AFM 用戶的第一個電容定標標準

Published on July 12, 2011 at 8:36 PM

Agilent Technologies Inc. (NYSE : A) 今天引入一個基本強制顯微鏡的第一個商業可用的電容定標標準 (AFM)。 科學解決方法提供者發行了通過其得獎的掃描微波顯微學模式允許對材料和設備屬性的定量鑒定的電容評定的定標說明。

從 Agilent 的研究員與國家標準技術局 (NIST 巨石城實驗室) 合作設立新的標準。

Agilent 的 SMM 模式是產生研究員真的被校準的電容的唯一的基於 AFM 的電子描述特性技術。

「SMM 模式是買得起研究員真的被校準的電容的唯一的基於 AFM 的電子描述特性技術」,說傑夫瓊斯, Agilent 的 nanoinstrumentation 設備的操作管理員在雜貨商,亞利桑那 「此定量信息是重要更好瞭解 nanoscale 系統回應和工作情況,特別是當設備屬性必須被估計以他們的打算的運算頻率時」。

SMM 模式靜態或動態地是使用一臺 Agilent 微波向量網絡分析儀協力 Agilent 5420 或評定屬性的 5600LS AFM 與在範例的要素電磁相互作用的上小的變化相關與事件微波的發信號的一個唯一方法。 Agilent 獨有的技術可以為在半導體 (沒有需要的氧化物層),金屬、電介質材料、鐵電的材料、裝绝緣體工和生物材料的評定使用。 從代表性抽樣的數據顯示出, SMM 模式能够映射有形資產在 AFM 探測的鋒利根本地限制的解決方法。

Agilent 的 SMM 模式是由獨立陪審團命名的 R&D 100 證書贏利地區和 R&D 雜誌編輯。 它由從 SPIE 的法官和也命名 2009年棱鏡證書贏利地區發布 Photonics 光譜雜誌的 Laurin 顧問委員會。

Last Update: 26. January 2012 21:33

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