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Posted in | Microscopy

황비홍은 세계에서 가장 유연한 DualBeam 시스템을 실행

Published on August 8, 2011 at 9:59 AM

황비홍 회사 (NASDAQ : FEIC), 연구 및 산업에 응용 프로그램에 대한 전자 현미경 시스템을 제공하는 선도적인 계측이 회사는 오늘 높은 해상도, 입체 (3D) 영상 및 분석 서비스를 제공합니다 새로운 반대의 3D DualBeam 시스템의 출시를 발표 샘플 종류의 광범위한.

반대의 3D의 높은 구성 플랫폼은 고객이 자신의 특정 요구 사항에 대한 시스템의 기능을 적응하실 수 있습니다.

페이 반대 3D DualBeam 시스템

"반대의 3D의 유연한 구성 재료의 다양한 연구를 오늘날의 연구자의 요구를 충족"트리샤 라이스 부사장과 황비홍의 연구 사업 단위의 일반적인 매니저는 말했다. "이온 빔 및 전자빔 기술과 방법에 황비홍의 선구적인 리더십은 잘. 심지어 가장 어려운 시료의 연구자에게 정보를 제공하기 위해 일치 작년 황비홍의 최신 세대가 업계 선두를 통합 세계 NanoLab, 가장 높은 해상도 DualBeam을 유쾌 소개 전자와 이온 빔 기술, 그리고 오늘 우리는 가장 유연 DualBeam, 반대로 3D를 공개하고 있습니다. "

반대 3D도 높은 진공 전용 또는 높이 낮은 진공 전자 이미징 하드웨어 사용할 수 있습니다. 낮은 진공 전자 이미징 기능은 시스템이 높은 진공 작업과 호환되지 샘플을 오염 또는 outgassing 수용할 수 있습니다. 낮은 진공 또한 요금도 같은 에너지 흩어지는 (x - 선) 분광법 (EDS)와 전자 후방 산란 회절 (EBSD)로 분석 기법에 필요한 높은 전류에서 비 전도성 샘플의 구축을 보완할 수있는 기능을 제공합니다.

반대의 3D는 3D 특성화 및 분석, 특정 사이트 샘플 수정 및 전송 전자 현미경을위한 고급 샘플 준비 (TEMs)에 대한 새로운 표준을 설정, 구성 DualBeam 시스템으로 쇼트키 분야 방출 전자 빔 및 높은 처리량 이온 빔 기술 황비홍의 리더십을 결합 그리고 원자 프로브. 고성능 플랫폼은 또한 황비홍의 인상적인 낮은 진공 기능을 구성하고 현장 분석에도 환경 스캐닝 전자 현미경 (ESEM). 수 있습니다 고급 SEM 검사 및 동기의 patterning 강력한 이미징 및 밀링 성능을 얻을 수 있습니다. 이러한 황비홍의 SmartSCAN과 드리프트와 같은 새로운 기능은 프레임 통합 (DCFI)이 다른 속성의 다양한 샘플 타입의 전자빔 이미징을 촉진 교정. 고급 backscattered 전자뿐만 아니라 이차 전자와 이온 감지기, 지형, 원소와 작곡 다양한 정보 수집 "모든 각도에서합니다."

최신 AutoSlice보기 (& V) G3 소프트웨어 옵션, 다양한 전자 이미징 하드웨어 및 높은 처리량 이온 칼럼의 결합 이온과 전자의 전하 균형 기능을 활용할 연구자 수 있습니다. 밀링 (양성 이온) 및 이미징 또는 드리프트 억제합니다 (전자과) 깔끔히 3D 시리얼의 자동화를위한 독특한 시너지 효과를 제공 전기 전도성 및 비 전도성 두 샘플의 이미징 및 분석. EDS 또는 EBSD, EDS3 및 EBS3 소프트웨어 옵션과 결합하는 경우도 3D로 원소지도 또는 crystallographic 오리 엔테이션 데이터를 재구성하는 데 사용할 수 있습니다.

반대의 3D는 재료 연구, 생명 과학, 전자 geosciences의 다양한 요구를 해결합니다. 그것은 즉시 주문 가능합니다. 자세한 내용을 보려면 다음 사이트를 방문하시기 바랍니다 http://www.fei.com/versa3d

Last Update: 3. October 2011 01:48

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