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FEI-Produkteinführung STAMM, der AtomAuflösungs-Elementare Karten Entbinden kann

Published on August 8, 2011 at 10:49 AM

FEI-Firma (NASDAQ: FEIC), eine führende Instrumentierungsfirma, die Elektronenmikroskopanlagen für Anwendungen in der Forschung und in der Industrie zur Verfügung stellt, kündigte heute die Freigabe seines Titanen G2 80-200 mit ChemiSTEM-Technologie an, ein neues Bauteil der Reihe des Titanen G2 von S/TEM (Scannen/Durchstrahlungselektronenmikroskope).

„, Indem wir die späteste Generation der Titanplattform der Elektronenoptik mit der revolutionären analytischen Empfindlichkeit von ChemiSTEM-Technologie kombinierten, haben wir ein Mikroskop, das elementare Karten der Atomauflösung im Protokoll entbinden kann und neue Fähigkeiten hinzufügt, wenn es die Anwendungen unseres Abnehmers in der Materialwissenschaft adressiert, Chemie und Nanotechnologie,“ sagten Trisha-Reis, Vizepräsidenten und Generaldirektor der Forschungs-Unternehmenseinheit FEIS hergestellt.

Das Titan™ G2 80-200 mit ChemiSTEM™-Technologie von FEI.

Dr. Paul Kotula von Sandia-Nationalen Laboratorien, sagte, dass „Unser Institut den FEI-Titanen G2 80-200 wegen seiner innovativen Kombination vom spätesten in Fühlerkorrektur Technologie und im Großen Raumwinkel, fensterlose Silikonantrieb Röntgenstrahldetektoren (SDD) wählte. Wir schätzen, dass wir einen Faktor von 50 bis 100 im Hinblick auf analytische Empfindlichkeit, Drehzahl gewinnen, und die kombinierte Ortsauflösung, über unserem vorhandenen analytischen Elektronenmikroskop FEG. Es ist bereits klar, dass Atomauflösungsröntgenstrahlmikroanalyse mit diesem neuen Mikroskop nicht nur möglich aber praktisch ist. Einmal gibt das Gebiet nur von ElektronEnergieverlustspektrometrie, Atomauflösungsmikroanalyse mit Röntgenstrahlen uns Zugriff zu mehr des Periodensystems und die Möglichkeit zu vorhandenen Quantifizierungsmethoden des Gebrauches, um viele Materialien an an der höchsten benötigten Auflösung und der Empfindlichkeit routinemäßig zu analysieren.“ Sandia-Nationales Laboratorium empfängt bald seinen Titanen G2 80-200 mit ChemiSTEM-Technologie, das erste solche in Nordamerika eingebaut zu sein Anlage.

Reis fuhr, „Nutzen Dieses neuer Mikroskops von allen Innovationen der Serie des Titanen G2, einschließlich das X-FEG Gewehr hoher Helligkeit und den zukünftigen DCOR-Fühlerkorrektor fort und erzielte Ortsauflösung von 0,8 Ångström im STAMM und von 0,9 Ångström in TEM, beim einen großen, flexibleren Funktionsplatz in der Versuchsfläche noch beibehalten und aktivierte die Anwendungen, die hohe Probenmaterial Neigungwinkel benötigen. Zum Beispiel ermöglicht diese große Neigungreichweite, wenn sie mit verteilter Architektur des Detektors 4-SDD ChemiSTEM-Technologie symmetrisch kombiniert wird, EDX-Tomographie. So zum ersten Mal überhaupt kann elementare Zusammensetzung 3D mit den Standard Flunkerei-vorbereiteten Lamellenproben erhalten werden, die montiert werden in Standardhalterungen in einem S/TEM.“

Die außerordentliche analytische Drehzahl und die Empfindlichkeit des Titanen G2 80-200's resultieren aus der eigenen ChemiSTEM Technologie FEI, einschließlich das X-FEG (eine ultra-stabile Quelle Hochhelligkeit Schottkys FEG), die Super--x EDX Detektoranlage der hohen Empfindlichkeit (4 fensterlose Silikonantriebdetektoren tief integriert in das Objektiv) und die abbildende Hochgeschwindigkeitselektronik, die zu 100.000 Spektren/an zweiter Stelle erwerben fähig ist. Darüber hinaus erlauben die hohe Befund-Leistungsfähigkeit von ChemiSTEM-Technologie und die Verfügbarkeit des höchsten Fühlerstroms jedes möglichen Mikroskops, dass elementare abbildende atomarfähigkeit über der gesamten Beschleunigungsspannungsreichweite 200 KV unten zu 80 KV aufrechterhalten wird, die helfen können, Signal zu maximieren und Beispielschaden in den senstive Materialien des Trägers zu verringern.

„Wegen dieser Innovationen,“ Reis hinzugefügt, „dieses neue Mikroskop hat das Potenzial, Probleme in der Materialkundeforschung, die vorher schwierig oder unmöglich sich zu wenden gewesen sind, wie Analysieren der Atomspeziespolarität und der chemischen atomarbeendigung an den Schnittstellen zu lösen und misst die elementaren Konzentrationen der Spur, die wie 0,01 WT % so niedrig sind, bildet chemische Zusammensetzung über großen Gesichtsfeldern ab, und bestimmt elementare Zusammensetzung in drei Abmessungen. Wir glauben, dass der Titan G2 80-200 mit ChemiSTEM-Technologie Durchbruchergebnisse in vielen TastenVerwendungsgebiete für unsere Abnehmer, wie Katalyse, Metallurgie, Mikroelektronik, LED und grüne Energiematerialien aktiviert, einige zu benennen.“

Last Update: 12. January 2012 15:43

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