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Posted in | Microscopy

原子解像度の元素マップを渡すことができる FEI の進水の茎

Published on August 8, 2011 at 10:49 AM

FEI の会社 (NASDAQ: FEIC)、研究および企業のアプリケーションに電子顕微鏡システムを提供している一流の器械使用の会社今日 ChemiSTEM の技術のタイタン G2 80-200 発表しました、タイタン G2 の一連の S/TEM (スキャン/伝達電子顕微鏡) の新しいメンバーのリリースを。

「ChemiSTEM の技術の革命的な分析的な感度とタイタンのプラットホームで電子光学の最新の生成を結合することによって、私達は分の原子解像度の元素マップを渡すことができ、物質科学の私達の顧客のアプリケーションのアドレス指定の新しい機能を追加する顕微鏡を、化学およびナノテクノロジー」、言いました FEI の研究の事業体のの Trisha の米、副大統領および総務部長を作成しました。

FEI からの ChemiSTEM™の技術の Titan™ G2 80-200。

Sandia の国立研究所のポール Kotula 先生は、 「私達の協会がプローブ訂正の技術および大きい固体角度の窓なしのケイ素ドリフトの X 線の探知器 (SDD'S) の最新情報の革新的な組合せによる FEI のタイタン G2 80-200 を選択したことを言いました。 私達は私達が分析的な感度、速度および結合された空間分解能の点では 50 から 100 の要因を得ることを推定します私達の既存の FEG の分析的な電子顕微鏡に。 原子解像度の X 線微視的分析が可能この新しい顕微鏡とだけ実用的でありことは既に明確ですではない。 電子エネルギー損失の分光測定のだけ一度領域は使用の既存の定量化方法に、 X 線との原子解像度の微視的分析与えます私達に周期表の多くへのアクセスおよび定期的に必要とされる高リゾリューションおよび感度で多くの材料を分析するために可能性を」。 Sandia の国立研究所はやがて ChemiSTEM の技術のタイタン G2 80-200、第 1 を北アメリカでインストールされるべきそのようなシステム受け取ります。

米はまだ維持している間サンプル領域の大きく達成する、 X-FEG の高い明るさ銃および次世代 DCOR のプローブの校正者を含んでより適用範囲が広い作業域を、 「このタイタン G2 シリーズのすべての革新からの新しい顕微鏡の利点、茎の 0.8 オングストロームおよび TEM の 0.9 オングストロームの空間分解能を続きま、高い標本の傾き角度を必要とするアプリケーションを可能にします。 例えば、この大きい傾き範囲は、 ChemiSTEM の技術の対称的に分散 4 SDD 探知器アーキテクチャと結合されたとき EDX の断層レントゲン写真撮影を可能にします。 従って、はじめて 3D 元素構成は S/TEM の標準ホールダーに取付けられる標準によって他愛ない嘘準備される薄板のサンプルとことができます得る」。

タイタン G2 80-200's の異常で分析的な速度および感度は X-FEG (高明るさのショットキー超安定した FEG ソース)、高い感度超X EDX の探知器システム (対物レンズに深く統合される 4 つの窓なしのケイ素のドリフトの探知器)、および 100,000 本のスペクトル/二番目を得ることができる高速マップの電子工学を含む FEI 専有 ChemiSTEM の技術に、起因します。 さらに、 ChemiSTEM の技術の高い検出の効率およびあらゆる顕微鏡の最も高いプローブの流れのアベイラビリティは原子元素マップの機能がシグナルを最大化し、ビーム senstive 材料のサンプル損傷を減らすのを助けることができる 80 の kV に 200 の kV の全体の加速の電圧範囲に維持されるようにします。

「これらの革新が原因で追加される」、米 「この新しい顕微鏡にずっと前にアドレス指定しがにくくまたは不可能である大きい視野上の化学成分をマップし、 3 つの次元の元素構成を定める 0.01 wt % 低いトレース元素集中を測定するインターフェイスで原子種の極性および原子化学終了の分析のような物質科学の研究の問題を解決する潜在性があります。 私達は ChemiSTEM の技術のタイタン G2 80-200 は多数の進歩の結果が私達の顧客のためのキーのアプリケーション領域、触媒作用、冶金学、マイクロエレクトロニクス、 LEDs および緑エネルギー材料のような」。少数を指名することを可能にすることを信じます

Last Update: 12. January 2012 15:47

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