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Posted in | Microscopy

费推出的S - TEM,可以提供原子分辨率的元素地图

Published on August 8, 2011 at 10:49 AM

FEI公司 (纳斯达克股票代码:FEIC),电子显微镜系统在研究和工业应用提供领先的仪器仪表公司,今天宣布释放其泰坦G2的80-200 ChemiSTEM技术,泰坦G2系列的S / TEM的新成员(扫描/透射电子显微镜)。

“相结合的泰坦平台的最新的革命性ChemiSTEM技术分析灵敏度的电子光学的一代,我们创建了一个显微镜它可以提供在几分钟内原子分辨率元素地图,添加在材料科学,化学和纳米技术解决客户的应用的新功能特丽莎说,“赖斯,副总裁和总经理费的研究事业部。

泰坦™G2的80-200 ChemiSTEM™技术费。

桑迪亚国家实验室的保罗博士Kotula,说:“我们的研究所选择费泰坦G2 80-200由于其最新的探针校正技术和大型固体角度,窗户的硅漂移X射线探测器的创新组合(SDD的),我们估计将获得50至100分析灵敏度,速度和空间分辨率相结合,对我们现有的护送队分析电子显微镜,它已经是明确的因素,不仅是可能的原子分辨率的X射线微但与这种新的显微镜实用。给人我们获得更多的周期表,并有可能使用现有的量化方法,定期分析,在最高分辨率的许多材料,一旦唯一的电子能量损失光谱仪,原子分辨率的X射线显微分析领域和灵敏度。“桑迪亚国家实验室将很快收到其泰坦G2 ChemiSTEM技术80-200,安装在北美的第一个此类系统。

赖斯继续说,“从所有创新的泰坦G2系列,包括了X -护送队的高亮度枪和下一代DCOR探头校正这种新的显微镜的好处,实现茎0.8埃和0.9埃在TEM的空间分辨率,,请仍然维持一个大的,更灵活的工作样本区的空间,使应用程序要求高试样倾斜的角度。举例来说,这个大的倾斜,范围,ChemiSTEM技术相结合的对称分布4 - SDD探测器架构允许EDX断层扫描。因此,有史以来的第一次3D元素组成,可与标准的FIB准备薄片安装在标准的持有人在S /透射电子显微镜的样品。“

“泰坦G2的80 - 200的非凡的分析速度和灵敏度的费专有ChemiSTEM技术,包括的X - FEG(一个超稳定的高亮度肖特基FEG源)的高灵敏度超级- X能谱探测器系统(4窗户硅结果综合漂移探测器,深入客观的镜头),以及高速的映射电子能够获得100000光谱/秒。此外,ChemiSTEM技术的检测效率高,任何显微镜的探针电流最高的可用性允许原子元素映射能力将超过200千伏的加速整个电压范围为80千伏,它可以帮助最大限度地提高信号和减少维护束灵敏材料的样品损坏。

“由于这些创新,”赖斯说,“这种新的显微镜有潜力,以解决在材料科学研究中的问题,先前已很难或者不可能地址在界面原子物种的极性和原子化学终止,如分析,测量微量元素,我们相信泰坦G2 80-200 ChemiSTEM技术将使许多关键应用领域的突破性成果,为我们的客户,如为0.01 wt%的低浓度,映射查看大领域,化学成分,并确定在三个方面的元素组成。作为催化剂,冶金,微电子,LED和绿色能源材料,仅举几例。“

Last Update: 3. October 2011 01:48

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