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FEI 可能傳送基本解決方法基本映射的生成詞根

Published on August 8, 2011 at 10:49 AM

FEI 公司 (那斯達克: FEIC),提供電子顯微鏡系統的一家主導的手段公司為在研究和行業的應用,今天宣佈了其巨人與 ChemiSTEM 技術的 G2 80-200, S/TEM (掃描巨人 G2 系列的一名新的成員版本/傳輸電子顯微鏡)。

「通過結合電子光學的巨人平臺的最新的生成與 ChemiSTEM 技術革命分析區分,我們創建了在分鐘可能傳送基本解決方法基本映射并且添加在解決我們的客戶的應用的新的功能在材料學的一個顯微鏡,化學和納米技術」,說 Trisha 米、副總統和的 FEI 的研究營業單位的總經理。

Titan™與 ChemiSTEM™技術的 G2 80-200 從 FEI。

Sandia 國家實驗室的保羅 Kotula 博士,說 「我們的學院選擇了 FEI 巨人 G2 80-200 由於其創新組合的最新信息在探測更正技術和大固定角度,無窗的硅偏差 X-射線探測器 (SDD'S)。 我們估計我們將獲取系數 50 到 100 根據分析區分、速度和聯合的空間分辨率,在我們現有的 FEG 分析電子顯微鏡。 已經是確切基本解決方法 X-射線微量分析是不僅可能,但是實用的與此新的顯微鏡。 一次仅域電子能量損失光譜,與 X-射線的基本解決方法微量分析產生我們對更多的存取這個週期表和這個可能性使用現有的量化方法定期地分析許多材料在需要的最高分辨率和區分」。 Sandia 國家實驗室很快將接受其巨人與 ChemiSTEM 技術的 G2 80-200,第一在北美將安裝的這樣系統。

米在範例區繼續了, 「此從巨人 G2 串聯的所有創新的新的顯微鏡福利,包括 X-FEG 高亮度槍和下一代 DCOR 探測糾正者,達到 0.8 埃和在 TEM 的 0.9 埃的空間分辨率在詞根的,當仍然維護一個大,更加靈活的工作空間,啟用要求高標本掀動角度時的應用。 例如,此大掀動範圍,當與 ChemiSTEM 技術的對稱地被分配的 4 SDD 探測器結構結合允許 EDX X線體層照相術。 因此, 3D 基本構成可以第一次得到與標準在 S/TEM 的標準持有人掛接的小謊準備的鱗片範例」。

巨人 G2 80-200's 非常分析速度和區分起因於 FEI 所有權 ChemiSTEM 技術,包括 X-FEG (一個超穩定的高亮光肖特基 FEG 來源),高區分超X EDX 探測器系統 (4 臺無窗的硅偏差探測器深深地集成物端透鏡) 和高速映射的電子能够其次獲取 100,000 個光譜/。 另外, ChemiSTEM 技術高檢測效率和所有顯微鏡最高的探測當前的可用性允許基本基本映射的功能被維護在 200 kV 的整個加速的電壓範圍下來到 80 kV,可能幫助最大化信號和減少在射線 senstive 材料的範例故障。

「由於這些創新」,加的米, 「此新的顯微鏡有潛在解決以前難或無法解決在材料學研究的問題,例如分析基本種類極性和基本化工終止在界面,評定跟蹤基本濃度低到 0.01 wt %,映射在大視野的化學成分和確定在三維數的基本構成。 我們相信巨人與 ChemiSTEM 技術的 G2 80-200 將使在許多的突破結果關鍵字我們的客戶的應用程序方面,例如催化、冶金學、微電子學、 LEDs 和綠色能源材料,命名一些」。

Last Update: 26. January 2012 23:02

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