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Anasys 仪器胜利 2011年 AFM-IR 技术的创新证书

Published on August 16, 2011 at 9:14 PM

Anasys 仪器的 AFM-IR 系统由显微学今天认可了在 2011年创新证书的收货。 它存在了给 CEO, Roshan Shetty,在纳稀威今年举行的 2011年 M&M 年会, TN。

Anasys AFM-IR 系统今天获得一个 2011年显微学创新证书。

AFM-IR 技术由亚历山大 Dazzi 博士巴黎 Sud 大学的开发。 当红外线吸光度探测器并且得到红外线分光学在 2 个数量级更好比传统红外线分光学,它使用 AFM 探测。 它也提供 AFM 以长期是 ‘圣杯’此社区的真的化学制品 ID 功能。

评论对导致证书、国际公认的 spectroscopist、博士刻替斯 Marcott,资深合伙人在轻的轻的解决方法和社团 2011年总统应用的分光学的 AFM-IR 的影响,在 AFM-IR 新的技术说 “基本 (AFM)强制显微学 (IR)和红外分光学的组合如表明是其中一最重要的新发展在重要红外线 microspectroscopy 和化工想象领域”。

他说, “红外线分光学的重要性对我们的科学基础设施需要的没有产生的简介这个行业的范围和其应用广度。 然而,衍射强加的这个根本实际限额防止了对此重要技术的使用对要求是许多的论点在聚合物和生命科学的扣人心弦的新问题的高空间分辨率的应用”。

潜在的 nanoIR 应用程序方面包括聚合物混合、多层膜和层压制品、有机缺陷分析、组织形态学和组织学、亚细胞分光学和有机 photovoltaics。 关于进一步详细资料,请访问公司网站 (www.anasysinstruments.com)。

Last Update: 12. January 2012 14:58

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