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Anasys 儀器勝利 2011年 AFM-IR 技術的創新證書

Published on August 16, 2011 at 9:14 PM

Anasys 儀器的 AFM-IR 系統由顯微學今天認可了在 2011年創新證書的收貨。 它存在了给 CEO, Roshan Shetty,在納稀威今年舉行的 2011年 M&M 年會, TN。

Anasys AFM-IR 系統今天獲得一個 2011年顯微學創新證書。

AFM-IR 技術由亞歷山大 Dazzi 博士巴黎 Sud 大學的開發。 當紅外線吸光度探測器並且得到紅外線分光學在 2 個數量級更好比傳統紅外線分光學,它使用 AFM 探測。 它也提供 AFM 以長期是 『聖杯』此社區的真的化學製品 ID 功能。

評論對導致證書、國際公認的 spectroscopist、博士刻替斯 Marcott,資深合夥人在輕的輕的解決方法和社團 2011年總統應用的分光學的 AFM-IR 的影響,在 AFM-IR 新的技術說 「基本 (AFM)強制顯微學 (IR)和紅外分光學的組合如表明是其中一最重要的新發展在重要紅外線 microspectroscopy 和化工想像領域」。

他說, 「紅外線分光學的重要性對我們的科學基礎設施需要的沒有產生的簡介這個行業的範圍和其應用廣度。 然而,衍射強加的這個根本實際限額防止了對此重要技術的使用對要求是許多的論點在聚合物和生命科學的扣人心弦的新問題的高空間分辨率的應用」。

潛在的 nanoIR 應用程序方面包括聚合物混合、多層膜和層壓製品、有機缺陷分析、組織形態學和組織學、亞細胞分光學和有機 photovoltaics。 關於進一步詳細資料,请請訪問公司網站 (www.anasysinstruments.com)。

Last Update: 26. January 2012 23:02

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