研究者はもたらします堅い X 線の角度解決する光電子放出分光学 (HARPES) を

Published on August 29, 2011 at 4:03 AM

カメロンシェ著

米国エネルギー省のローレンスバークレーの国立研究所 (バークレーの実験室) の研究者は (DOE)堅い X 線の角度解決する光電子放出分光学 (HARPES) と呼出される新しい X 線の技術を開発しました。

アレキサンダーの灰色およびチャールズ Fadley の DOE/Lawrence バークレーの国立研究所

汚染または表面の反作用の少数の影響のあらゆる材料のバルク電子構造を、調査するのに HARPES が使用することができることをチャールズ Fadley、 HARPES の開発を導いた示される物理学者。 この技術は nanoscale 装置でどこにでもあり、 spintronics の電子工学の一義的なメモリアーキテクチャの小さい論理素子にとって重要であると、また光電池のような装置の非常に能率的なエネルギー変換で、彼は付け加えました層および隠されたインターフェイスを調査できます。

研究者は、 ` の性質材料ジャーナルの堅い X 線の角度解決する光電子放出を用いる徹底的なバルク電子構造をタイトルを付けられる、ペーパーの HARPES の技術の正常なデモンストレーション」報告しました。

バルク電子構造の調査へのキーが固体材料の表面の下で深くからの光電子を出すために高い光子エネルギーを所有している X 線である堅い X 線の利用であることをバークレーの実験室の物質科学部のアレキサンダーの灰色、関係団体および示される Fadley のデービス研究グループカリフォルニア大学のメンバー。 高エネルギー光子はそれから検光子が大きさから得られるシグナルの多くを検出するようにする固体材料の中のより長い間隔を通るためにそれらを作る出された光電子に高い運動エネルギーをと彼言いました送信します。

HARPES の技術の機能性のデモンストレーションのために、研究者は兵庫、日本にいた SPring8 放射光機能で高輝度 undulator の beamline を利用しました。 物質科学のための日本の各国用の協会は機能のオペレータです。 調査の間に、 HARPES の技術は研究者がガリウム砒素およびタングステンの単結晶の大部分に 60 Å の深さまで調査することを可能にしました。 研究者は堅い X 線の強いビームを作り出すことができる角度およびエネルギー、また第三世代の光源測定するのに洗練された電子分光計を使用しました。

ソース: http://www.lbl.gov

Last Update: 11. January 2012 06:01

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