Site Sponsors
  • Asylum Research manufactures advanced Atomic Force/Scanning Probe Microscopy instruments and accessories
  • New HD-AFM Mode; Your Path to Controlling Forces for Precise Material Properties
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • NanoTest Vantage a complete nanomechanical and nanotribological test solution

Микроскопии Награда Рационализаторства Сегодня Представленная к Аппаратурам Nanofactory и Лаборатории Брукхейвен

Published on September 26, 2011 at 3:39 AM

Камероном Chai

Награде 2011 Рационализаторства Микроскопии Сегодня награждала Швеци-Основанные Аппаратуры Nanofactory, изготавливание компании и оборудования микроскопии зонда скеннирования маркетинга, и Лабораторию Брукхейвен Национальную Министерства Энергетики США.

Yimei Zhu

Общество Микроскопии Америки предприниматель академичного журнала, Микроскопии Сегодня, которая напечатана Давлением Кембриджского Университета. Общество присоединенный филиал Американская Ассоциация По Содействию Развития Наук и Американский Институт Физики.

Yimei Zhu, которое служит как старший физик на Лаборатории Брукхейвен, получал награду именем Аппаратур Nanofactory и Лабораторию Брукхейвен на ежегодном собрании Общества Микроскопии Америки дирижировало в Нашвилле, Теннесси с 7-ого до 11 августа 2011. Награда металлическая пластинка которая подтверждает вклад заведений в начинать multimodal оптически nanoprobe которое позволяет измерениям совершенного сочетание из физическим в просвечивающем электронном микроскопе'.

Zhu возглавил научно-исследовательскую группу Национальной Лаборатории Брукхейвен ую с Аппаратурами Nanofactory для того чтобы начать multimodal оптически nanoprobe, которое помещено на просвечивающем электронном микроскопе для того чтобы определить различные атрибуты образца одновременно, вместе с воображением.

Nanoprobe измеряет структурные, механически, электрические и оптически свойства материалов и аппаратур nanoscale которые увеличиваны от 1.000 до 50 миллионов времен. Интегрировать несколько технологий метрологии в один прибор включает превосходную материальную характеризацию, которой нельзя достигнуть когда методы последовательно выполнены. Эти функциональности предложены в одиночном пакете, следовательно могут быть включены в большую часть из систем электронной микроскопии с минимальными затруднением и ценой.

Источник: http://www.bnl.gov

Last Update: 12. January 2012 13:25

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit