STMicroelectronics Produce el Primer Fulminante del Semiconductor del Mundo Usando Tecnología de EMWS

Published on December 16, 2011 at 1:06 AM

Por Cameron Chai

STMicroelectronics ha declarado que ha producido con éxito el fulminante de semiconductor primero-de-su-bueno, cuyos dados eran totalmente faltos probado de las antenas de contacto.

STMicroelectronics Produce el Primer Fulminante del Semiconductor del Mundo Usando Tecnología de EMWS

STMicroelectronics' sofisticó tecnología de la prueba permite la prueba de una viruta fulminante-basada tal como RFID ICs que utilizaba ondas electromagnéticas como la única conexión a las matrices del circuito en el fulminante, ofreciendo varias ventajas, incluyendo un costo más inferior del producto, tiempos más cortos de la prueba y rendimientos más altos. Por Otra Parte, este método sin contacto activa la prueba de los circuitos del RF bajo condiciones comparables a las condiciones de aplicaciones reales.

La tecnología electromágnetica nueva de la clase (EMWS) del fulminante es un resultado de la Antena de la ETIQUETA de la FRECUENCIA ULTRAELEVADA Acoplada Magnético al Circuito Integrado (UTAMCIC), a un proyecto común de la investigación y desarrollo de STMicroelectronics y a la Universidad de Catania.

La tecnología de EMWS es un adelanto de la clasificación eléctrica del fulminante, el estadio final de la producción del fulminante antes de ensamblar y prueba de los productos embalados acabados. En este escenario del ciclo de la producción, el fulminante tramitado comprende un arsenal idéntico del circuito aparado muere. Las antenas minúsculas de una tarjeta de la antena conectada al Equipo de Prueba Automática (ATE) son hechas para tocar las pistas de la prueba sobre el dado moviendo la tarjeta sobre cada mueren. COMIÓ entonces prueba cada mueren por sus funciones, que permite el rechazo de no funcional mueren antes de su ensamblar y empaquetado.

En la tecnología de EMWS, los dados individuales comprenden una antena microscópica y COMIÓ proporciona a potencia y corresponde a través de ondas electromagnéticas con los dados. Este método disminuye la cuenta de pistas de la prueba sobre el dado, dando por resultado la reducción de muere talla. Esta tecnología es capaz de realizar la prueba totalmente sin contacto de circuitos de baja potencia, que a su vez elimina el daño de las pistas de la prueba y mejora el rendimiento. Por Otra Parte, la duración de ciclo de la prueba puede ser importante reducidos gracias a la capacidad de lograr alto paralelismo de la prueba en el modo sin contacto.

Fuente: http://www.st.com

Last Update: 11. January 2012 04:34

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