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Carl Zeiss Feiern 10. Jahrestag Technologie der AURIGA Querträger-FIB-SEM

Published on December 18, 2011 at 7:37 PM

Carl Zeiss-Mikroskopie, eine Firma der Carl Zeiss-Gruppe und führender Anbieter der Leuchte, des Laserscannens und des Elektrons und der Ionenträgermikroskope, kündigten heute die Feier seines zehnten Jahrestages der Technologie AURIGA Querträgers FIB-SEM an.

zu Ehren des zehnten Jahrestages des AURIGAS wurde eine Zeremonie in der Mitte für Verbundwerkstoffe an der Universität von Delaware angehalten. Die Anlage ist die erste bedeutende Datenerfassung, die jetzt für das neue Interdisziplinäre die Wissenschafts-und die Technik-Labor bestimmt ist der Universität (ISE-Labor) im Bau.

Wenn es beendet wird, bringt das ISE-Labor ihr neues AURIGA 60 Instrument Querträgers FIB-SEM unter und stellt fast 200.000 Quadratfuß Platz für Hände auf Forschung und Ausbildung zur Verfügung. Nach Ansicht Dr. David Martin, Stuhl der Material-Wissenschaft und der Technik, „Dieses vielseitige analytische Instrument ist eine ausgezeichnete Vorführung der interdisziplinären Forschungsgelegenheiten, die vom ISE-Labor zur Verfügung gestellt werden. Das Mikroskop ist offen zum Gebrauch durch alle Bauteile der Universität von Delaware-Gemeinschaft sowie zu unseren Partnern in der Industrie, in den Regierungslabors und in benachbarter akademischer Einrichtung.“

„Das vielseitige, ist flexible AURIGA Querträgeranlage das erfolgreichste FIB-SEM Instrument geworden, das überhaupt von Carl Zeiss produziert wird,“ sagte Michael Rauscher, Direktor des Produkt-Abschnitt-Querträgers. „Wir sind auf unsere Durchführungen stolz, und wir sind auf die Tatsache stolz, dass die Universität von Delaware, seine Labors mit der Technologie AURIGA Querträgers auszurüsten FIB-SEM beschlossen hat und uns zu helfen, den zehnten Jahrestag dieses bahnbrechenden Produktes zu feiern.“

Angesprochen durch einige Leute als das Schweizer Armeemesser von Mikroskopiehilfsmitteln, enthält das AURIGA-Instrument eine ZWILLINGS-Rasterelektronenmikroskop (SEM)spalte und eine fokussierte Ionenträger (FIB)spalte. Die SEM-Spalte aktiviert den AURIGA, großartiges, hohe Auflösung, Nano-Schuppenbilder zu erstellen, während die FLUNKEREI-Spalte das Hilfsmittel aktiviert, Material von der Probe zu löschen, indem sie mahlt oder schneidet. Tatsächlich kann der AURIGA Material der Probe mittels des chemischen Bedampfens auch hinzufügen. Außerdem indem man automatisch einige Bilder kombiniert, kann ein komplettes 3D-model der Probe erstellt werden.

Infolge dieser Fähigkeiten wird der AURIGA ideal für heutige Materialforschung, die eine große Komplexität von Aufgaben einschließlich Analyse der chemischen Zusammensetzung miteinbezieht, kristallographische Orientierung entsprochen, Morphologie und elektrische Attribute beendet; zusätzlich wird sie auch großartig für Biowissenschafts-Forschungsanwendungen entsprochen.
Einige von den heutigen forderndsten Anwendungen, die vom AURIGA gehandhabt werden, umfassen:

  • Analyse von Kohlenwasserstoffeinlagen im Schiefergestein
  • Abbilden und Rekonstruktion des Gehirns 3D
  • Darstellung des großen Gebiets
  • und mehr.

Last Update: 11. January 2012 04:20

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